貨號：ZH7263

產品簡介:

VXMGZ-I高阻測定儀是根據PTC研究項目的需要而開發的用計算機控制PTC材料R-T曲線性能的儀器。

VXMGZ-I高阻測定儀是在高溫和線性升溫條件下測試材料的高阻性能的儀器。

VXMGZ-I高阻測定儀主要參數：

可對Ф40mm以上或10×10×10mm3PTC樣品進行R-T特性試驗儀器電阻測量范圍：0.01Ω-1015Ω±3%

溫度控制范圍：室溫-300℃    

分辨率：0.1℃

控溫方式：恒溫±0.5℃

勻速升溫速率：0.5-5℃/分

勻速升溫精度：±1℃

計算機自動PTD調節，曲線CRT顯示，數據存儲、打印。

型號：VXMGZ-I 貨號：ZH7263

產品簡介:

該設備是根據PTC研究項目的需要而開發的用計算機控制PTC材料R-T曲線性能的儀器。

高阻測定儀是在高溫和線性升溫條件下測試材料的高阻性能的儀器。

主要參數：

可對Ф40mm以上或10×10×10mm3PTC樣品進行R-T特性試驗儀器電阻測量范圍：0.01Ω-1015Ω±3%

溫度控制范圍：室溫-300℃    

分辨率：0.1℃

控溫方式：恒溫±0.5℃

勻速升溫速率：0.5-5℃/分

勻速升溫精度：±1℃

計算機自動PTD調節，曲線CRT顯示，數據存儲、打印。