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XP64000L梅特勒XP64000L精密天平
超越系列XP精密天平提供法規環境下的至高安全性。觸摸顯示屏實現應用過程中的用戶引導,并在超出規定公差時發出彩色警告。的內置質量管理工具箱，加強了質量指南，可管理多達8組用戶的密碼和訪問權限。
XP系列精密天平杰出的性能提高了生產效率。無需用手接觸操作和無線藍牙數據傳輸，使有毒物質的稱量比以往更安全。
規格 - XP64000L 精密天平
| zui大稱量范圍 | 64100 g |
| 可讀性 | 1 g |
| 線性 | 0.6 g |
| 重復性 | 0.6 g |
| 秤盤尺寸 | 280 x 360 mm （W x D） |
| 穩定時間（典型） | 1.5 s |
| 去皮范圍 | 0...64100 g |
| 偏心負載 | 1 g |
| 外部砝碼校準 | 用戶砝碼 |
| 內部砝碼校準 | proFACT專業級全自動校準技術, 溫度漂移和時間觸發的全自動內校 |
| 秤臺尺寸 | 360 x 280 x 130 mm （W x D x H） |
| 終端尺寸 | 194 x 145 mm （W x D） |
| 物料號 （s） | 11130651 |
| 商業名稱 | XP64000L/A,XP64000L/L,XP64000L |
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