粉末電阻率測試儀/半導體粉末電阻率測試儀     型號；HHY8-FZ-2010

 HHY8-FZ-2010半導體粉末電阻率測試儀是本公司根據能源方面，與其是鋰電池的研究需求，開發的型粉末電阻率測試儀。

本產品參照有關標準，配置粉末測試臺或四探針測試臺，可以對粉末、片狀、塊狀半導體材料以 及固態金屬進行電阻、電阻率、方塊電阻等多用途測量。

測量范圍：電阻10^-4---10⁶，分辨率1μΩ. ㎝。

          電阻率 10^-4---10⁶，分辨率1μΩ. ㎝。

          薄層電阻  10^-3 ---- 10⁷ Ω/□ ，分辨率10^-5  Ω/□。

測量電壓量程：0.2mv\2mv\20mv\200mv\2v，分辨率0.1μν，測量精度  ±（0.3%讀數+2字）。

測量電流：0--100mA 連續可調。電流量程 1μΑ、10μΑ、100μΑ、1mΑ、10mΑ、100mΑ。

粉末測量：1、試樣粒度--標準篩網40目以上直至納米材料。 2、試樣容器---內腔φ16.30±0.1mm或φ6±0.1mm。 3、試樣高度---16mm±0.5mm或6~20mm±0.1mm。測量誤差±0.1mm。4、取樣壓力--4Mpa±0.5Mpa(40kg/cm² ±0.5kg/cm²  )或8Mpa±0.5Mpa(80kg/cm²   ±0.75kg/cm² )，壓力量程--0~200kg可調。

固體薄膜及半導體測量：四探針測試架---1、探針間距1mm±0.03mm；2、探針游移率﹤±0.3%；3、可測材料尺寸--直徑φ15~160mm，長度<400mm。

顯示方式：3½位數字顯示電阻、電阻率、壓力、高度。單位、小數點自動顯示。

電源：220±10%  50HZ~60HZ  功率消耗<150W。

外形尺寸： 440mm×120mm×420mm。