是德2600-PCT-xB大功率半導體器件測試系統產品簡介

是德2600-PCT-xB大功率半導體器件測試系統

開發和使用MOSFET、IGBT、二極管和其他大功率器件，需要全面的器件級檢定，如擊穿電壓、通態電流和電容測量。 Keithley 高功率參數化波形記錄器系列的配置支持所有的設備類型和測試參數。

典型配置：

Model 2657A High Power System SourceMeter SMU

Model 2636B SourceMeter SMU Instrument

Model 2651A High Power System SourceMeter SMU

產品特性

完善的解決方案，價格實惠且性能優異

可現場升級和重新配置，將PCT 轉換成可靠性或晶片分類測試儀

可配置功率電平：

? 200V 至 3kV

? 1A 至 100A

寬動態范圍：

? µV 至 3kV

? fA 至 100A

全量程容-電壓 (C-V) 能力：

? fF 至 µF

? 支持2、3 和 4 端器件

? 高達3kV DC 偏移

高性能測試夾具支持一系列軟件包類型

探頭測試臺接口支持最常見的探頭類型，包括HV 同軸三線電纜、SHV 同軸電纜、標準同軸三線電纜等

產品應用

MOSFET、IGBT、二極管和其他大功率器件開發應用

規格參數