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主營產品： 射頻光纖傳輸模塊-微波光纖傳輸模塊-RF over Fiber-微波光纖延遲線-雷達目標模似器

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[供應]膜厚測量儀-膜厚測量儀
膜厚測量儀-膜厚測量儀
貨物所在地：
北京北京市
更新時間：
2025-06-25 21:00:08
有效期：
2025年6月25日--2025年12月25日
已獲點擊：
2609
【簡單介紹】本膜厚測量儀適用于nm及um級薄膜厚度測量，測量的空間分辨率（測量點的大小）可達10um，厚度測量準確度為nm級。
【詳細說明】

膜厚測量儀的特點：本膜厚測量儀適用于nm及um級薄膜厚度測量，測量的空間分辨率（測量點的大小）可達10um，厚度測量準確度為nm級。

此款膜厚測量儀適用于：

顯示器、觸摸屏、太陽能電池、R2R 光學鍍膜等產業的薄膜厚度測量
光學材料參數測量、彩色濾光片色度及穿透率測量。（如：Oxide, Nitride,
ITO, RGB CF, PR, PI…@ Si, Glass, PET…等樣品）
 
膜厚測量儀的技術參數：
1.厚度測量范圍：10 nm ~ 30 μm （采用Ocean Optics 光譜儀）
（Optional: up to 250 μm）
2.厚度測量重復性：< 1 nm @ 500 nm Oxide on Si
3.測量點大小 : Macro（~3 mm）
（Optional 選項加顯微鏡 : 10 μm – 3 mm）
4.測量時間：< 1 sec
5.其它功能：折射率（n）及消光系數（k）測量
反射率（R）及穿透率（T）測量
色度參數（x, y, Y, L*, a*, b*）測量
（Optional:在線檢測、實時8-16 通道測量）
6. 機臺尺寸：長寬高約31*27*30 （cm）。


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