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可編程高低溫試驗箱的測試流程
可編程高低溫試驗箱用于模擬產品在氣候環境溫濕組合條件下（高低溫操作&儲存、溫度循環、高溫高濕、低溫低濕、結露試驗等），應用于國防工業,航天工業.自動化零組件,汽車部件,電子電器零組件,儀器儀表、材料、塑膠,化工,食品,制藥工業及相關產品之耐熱.耐濕.耐寒.耐干性能及品質管理工程之試驗規范，對試品在給定的環境條件下檢測產品本身的適應能力與特性是否改變作出評價。
測試流程：
1.當樣品斷電時，首先將溫度降至-50℃，保持4小時;樣品上電時不進行低溫測試非常重要，因為芯片本身上電時溫度會高于+20°C，所以通常上電時更容易通過低溫測試，所以必須先“凍透”，再重新上電進行測試。
2.啟動機器，測試樣品的性能，與常溫相比性能是否正常。
3.進行老化測試，看是否有數據對比錯誤。
4.將溫度升至+90℃，并保持4小時。與低溫測試是相反的，芯片內部溫度要保持在高溫狀態，加熱過程中不斷電。在4小時之后，執行測試步驟2、3和4。
5.高溫和低溫試驗分別要重復10次。
如果測試過程在任何時候都不能正常工作，就被認為是測試失敗。