顆粒統計分析測量系統

使用飛納臺式掃描電鏡的顆粒統計分析測量系統，以快速、 簡便的方式實現顆粒的可視化分析。顆粒統計分析測量系統支持用戶在電鏡操作界面直接收集多種亞微米顆粒的形態和尺寸數據。超越光學顯微鏡分析，自動化的顆粒統計分析測量系統把可視化分析提高到了一個新臺階，這將在粉末設計、開發和質量控制中產生進一步的探索和創新。

柱狀圖、散點圖和生成的圖像可以選定格式導出，并生成報告。所有被測顆粒的柱狀圖都可以顯示為數量分布或體積分布。散點圖可以從顆粒屬性的任意組合中繪制出來，以揭示相關性和趨勢。飛納電鏡的顆粒系統支持用戶獲得他們需要的數據。因此，顆粒系統加快了顆粒分析速度，提高了產品質量。

1）聯機或脫機分析；
2）收集顆粒的屬性數據，例如當量直徑、圓度、長軸短軸比、凸包度等；
3）借助超大視野拼圖軟件，可獲得大量顆粒的分析數據；

4）先進的識別算法，用戶自由選擇默認設置或高級設置。