冠層分析儀采用了冠層孔隙率與冠層結構相關的原理。它是根據光線穿過介質減弱的比爾定律，在對植物冠層定義了一系列假設前提的條件下，采用半理論半經驗的公式，通過冠層孔隙率的測定，計算出冠層結構參數。冠層分析儀采用的是對冠層下天穹半球圖像分析測量冠層孔隙率的方法。
冠層分析儀特點:
1.儀器將顯示屏、操作按鍵、存儲SD卡及測量探桿一體化設計，操作簡單，體積小，攜帶方便
2.存儲介質采用SD卡，存儲容量大，數據管理方便
3.冠層分析儀具有自動休眠功能
4.測量方式分為自動和手動兩種。自動測量時間間隔zui小1分鐘，自動測量次數zui大99次，手動測量根據實際需要手動采集
冠層分析儀用途與適用范圍:
冠層分析儀可測算植物冠層的太陽直射光透過率、天空散射光透過率、冠層的消光系數，葉面積指數和葉片平均傾角等，可用于農作物、果樹、森林內冠層受光狀況的測量和分析可用于不同植物群體結構的比較；可對農田作物群體生長過程進行動態監測適用于生態學野外植物群體動態監測的研究與教學；也適用于農業、園藝、林業領域有關栽培、育種、 植物群體對比與發展的研究與教學 。
冠層分析儀可廣泛應用于農業生產和農業科研，為進行冠層光能資源調查，測量植物冠層中光線的攔截，研究作物的生長發育、產量品質與光能利用間的關系，本儀器用于400nm－700nm波段內的光合有效輻射（PAR）測量、記錄,測量值的單位是平方米·秒上的微摩爾（μmols㎡/秒）。由于作物冠層測量儀主要測量作物葉片對光線的攔截，所以該儀器適用于比較低矮的作物，樹木等其他較高的植物，推薦使用冠層分析儀。
