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當前位置：上海騁利電子科技有限公司>>日本橫河>> 光通信產業專用高速光譜分析儀 AQ6361
加快測量速度
通過引入CW光專用靈敏度模式[RAPID]，相較于以往機型，測量速度可提高多達20倍。這將縮短光譜測量所需的時間，提高生產效率。
與傳統機型相比
參考值跨度為100nm，25001個采樣點，平均值為1，噪聲水平約為?60 dBm
AQ6361體積不到AQ6370E的一半，可以成對安裝在標準機架上。這有助于降低復雜生產線和芯片測試儀所占用的體積，從而優化空間。
根據測量應用，可以選擇從0.03nm(高性能機型)到2nm的波長分辨率。此外，AQ6361還能提供高動態范圍測量，具有73dB的出色雜散光抑制性能(高性能機型)。
ITLA的光譜
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