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全新革命性的垂直同步雙觀測（DSOI）技術，使傳統的徑向等離子體觀測儀器的靈敏度提高了數倍。

新推出的GigE讀出系統，能夠在不到100毫秒的時間內收集、傳輸光譜及數據，從而加快分析速度，縮短了樣品切換的時間，使單位時間內的樣品分析數量大大增加。

極為靈敏及響應快速的LDMOS發生器，不需要外部冷卻：具有分析高重的復雜基體的能力 -- 而無需稀釋樣品 – 儀器開機速度快（約10分鐘）-- 生產率高。

新的New SPECTRO ICP Analyzer Pro 操作軟件采用了簡單直觀的界面，易于使用。

ICP-OES等離子體發射光譜儀 

SPECTRO公司新研發的垂直同步雙觀測DSOI光學系統，為提升ICP-OES的靈密度提供了一種全新解決方案。采用該技術解決了等離子體觀測的核心問題。該技術采用全新的視角觀測并記錄垂直燃燒的等離子體所產生的信號，使用兩個光學接口，并用一個增強反射鏡來捕獲等離子體兩側發出的光，以增加靈敏度，巧妙地解決了困擾垂直炬焰雙觀測所存在的干擾等諸多問題。因此，DSOI提供的靈敏度是傳統徑向觀測儀器的數倍，同時簡單明了地解決了傳統垂直雙觀測所存在的模式復雜、使用成本高等問題。