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產品簡介
DS/JB4040表面污染檢測儀適用于低水平β、γ輻射表面污染檢測，同時也適用與X、γ輻射劑量率的監測。
詳細介紹
DS/JB4040表面污染檢測儀，適用于低水平β、γ輻射表面污染檢測，同時也適用與X、γ輻射劑量率的監測。儀器采用GM探測器陣列，具有較高的探測效率；是環境實驗室、核醫學、分子生物學、放射化學、核原料運輸、儲存和商檢等領域進行β、γ輻射表面污染檢測或Xγ輻射防護監測的理想儀器，該儀器采用單片機控制，LCD液晶顯示，讀數清晰、操作方便。
特點與功能
GM探測器陣列，探測效率高
便攜式設計，重量輕
單片機控制，軟件功能強
LCD液晶顯示，會話式操作界面
計數率顯示cpm、cps、μSv/h
電池失效報警
主要技術指標
計數范圍：1～106
顯示單位：cpm、cps、μSv/h
探測器面積：35cm2
靈敏度：≥500cpm/μSv/h
劑量率范圍：0～200.00µSv/h
儀器本底：β≤130 cpm
相對誤差：測量范圍內相對基本誤差≤20%
供電電源：2節1.5v普通1號電池，整機電流≤60mA
溫度范圍：-10℃～45℃
尺寸重量：0.64kg; 20×10×5（cm）