產品描述：
N5245B 主要用于對各種電子元器件進行電學及射頻參數測試，如無線通信、微波射頻、光電子、半導體器件等領域的阻抗、傳輸、反射、相位和功率等參數測試。它采用優良的技術和算法，能精確地測量和分析信號特征，為用戶提供有效的測試結果和可靠的數據。
特點：
寬頻帶測量范圍：支持頻率范圍從 10 MHz 到 50 GHz，覆蓋了大部分無線通信和微波射頻應用領域的測試需求，可滿足多種不同類型設備和元器件在不同頻段的測試。
高精度測量：采用微波混頻技術和優良的射頻算法，具有出色的測量精度和穩定性。例如，低跡線噪聲在 1 kHz 帶寬時為 0.002 dB rms，高穩定性達到 < 0.03 dB/°C，能夠滿足嚴苛的測試要求，無論是研發階段的精確測量還是生產線上的質量把控，都能提供可靠的數據支持。
多功能模塊設計：具有模塊化設計，用戶可根據需要選擇合適的模塊組合，實現多種不同測試應用的靈活切換，如可配置不同的測試集、源衰減器、接收器衰減器等，極大提高了測試效率和靈活性，適應不同的測試場景和需求。
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