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| 一、儀器的主要用途和特點 | | | XPF-300透反射偏光顯微鏡是地質、礦產、冶金等部門和相關高等院校zui常用的專業實驗儀器。用于不透明物體或半透明物體，可以同時采用透射光和反射光觀察.
隨著光學技術的不斷進步，偏光顯微鏡的應用范圍也越來越廣闊，許多行業，如化工，半導體工業以及藥品檢驗等等，都廣泛地使用偏光顯微鏡。XPF-300透反射偏光顯微鏡就是非常適用的產品，可供廣大用戶作單偏光觀察，正交偏光觀察，錐光觀察以及顯微攝影，配置有石膏λ、云母λ/4試片、石英楔子和移動尺等附件，是一組具有較完備功能和良好品質的新型產品.本儀器的具有可擴展性，可以接計算機和數碼相機。對圖片進行保存、編輯和打印。 | | 二、儀器的主要技術指標 | | | | 名稱 | 規格 | | 總放大倍數： | 40X---630X | | 無應力消色差物鏡 | 4X/0.1 | | 10X/0.25 | | 25X/0.40 | | 40X/0.65 彈簧 | | 63X/0.85 彈簧 | | 目鏡 | 10X 十字目鏡 | | 10X 分劃目鏡 | | 試片 | 石膏 1λ 試片 | | 云母 1/4λ 試片 | | 石英楔子試片 | | 測微尺 | 0.01mm | | 濾色片 | 藍色 | | 帶座目鏡網絡尺 | | | 移動尺 | 移動范圍 30mm×40mm | | 鏡筒 | 三目觀察 | | 同軸照明系統 | 顯微鏡垂直照明系統，系統系數1倍，可適配與各型號的普通（160毫米機械筒長，斜筒式） 顯微鏡 。可作為反射光照明系統下觀察不透明物體表面細微結構. | | 反射照明系統 | | | | | | 三、系統的擴展性 | | | XPF-300D型偏光顯微鏡系統是將精銳的光學顯微鏡技術、*的光電轉換技術、*的計算機成像技術*地結合在一起而開發研制成功的一項高科技產品。可以在計算機上很方便地觀察偏光圖像，并對偏光圖譜進行分析,處理,還可輸出或打印偏光圖片。 | | |
1、偏光顯微鏡XPF-300
2、數碼適配鏡
3、彩色數碼相機（canon） |
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