首頁 >> 供求商機
冠層分析系統
一、用途：
通過測量作物冠層PAR值提供了關于影響田間作物生長的限制因素的有價值的信息，如葉面積指數（LAI）；SunScan探測器也可被用來描繪作物冠層PAR的分布圖。
二、原理：
根據冠層吸收的Beer法則（Beer’s law for canopy absorption）、Wood的SunScan冠層分析方程以及Campbell的橢圓葉面角度分布方程 (Campbell’s Ellipsoidal LAD equations)，使用光量子傳感器來測量、計算和分析植物冠層截獲和穿透的光合有效輻射及葉面積指數。
三、組成：
SunScan探測器；反射系數傳感器；數據采集終端；SunData軟件；三角架
四、參數：
1、 探測器工作區域：1000x13mm寬，傳感器間距15.6mm
2、 探測器光譜響應：400-700nm (PAR)；
3、 探測器測量時間：120ms；
4、 探測器分辨率：0.3μmol. m-2.s-1；
5、 探測器zui大讀數：2500μmol.m-2.s-1
6、 操作溫度：0 - 60 °C；
7、 BF3電纜長度：標準為7米，可擴展到100米；
8、 BF3無線連接方式；
9、 內存：2M內存，包含程序；1600K RAM 可用于儲存數據；
五、產地： 英國
4