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產(chǎn)品簡介
詳細介紹
溫度濕度偏壓試驗箱THB test概述
1.Temperature Humidity Bias Test是通過溫度30℃/60%R.H、30℃/85%R.H、60℃/60%R.H、85℃/60%R.H、85℃/85%R.H的相對濕度及1.1Vcc（靜態(tài)）對半導體器件、IC芯片、集成電路、IC封裝、CPU芯片進行1000小時的高溫、高濕、高電壓同步線性測試。其中可以在168小時和500小時停下來做高低溫循環(huán)測試、冷熱循環(huán)測試、溫濕度循環(huán)測試、高低溫交變測試等各種測試試驗250次溫濕度循環(huán)，其主要的試驗目的是加入偏壓激發(fā)鋁金屬的腐蝕，提供加速鋁腐蝕所需電解作用。測試溫度均勻度高達±0.3℃。
2.控制系統(tǒng)優(yōu)勢：中英文菜單式人機對話操作方式，有開機自檢功能、溫度線性校正、自動停機、系統(tǒng)預約定時啟動功能；實現(xiàn)工業(yè)自動化，帶數(shù)據(jù)交互功能，能與客戶主機鏈接實現(xiàn)遠程監(jiān)控，了解設備運行狀態(tài)，可以通過任何移動終端監(jiān)控。
溫度濕度偏壓試驗箱THB test性能指標
1.溫度范圍：-40℃～+150℃；-50℃～+150℃；-60℃～+150℃；-70℃～+150℃。（高溫可定制：+200℃）
2.濕度范圍：20%～98%R.H。（可定制：5%～98%R.H或10%～98%R.H，滿足溫濕度同步線性測試。）
3.重點測試的溫濕度點：30℃/60%R.H、30℃/85%R.H、60℃/60%R.H、85℃/60%R.H、85℃/85%R.H。
4.溫度穩(wěn)定度：±0.3℃。
5.溫度均勻度：±1.5℃。
6.升溫速率：3℃～4℃/min平均值。（可定制溫變速率為：5℃/min；10℃/min；15℃/min；20℃/min；25℃/min，線性與非線性溫變。）
7.降溫速率：0.7℃～1℃/min平均值。（可定制溫變速率為：5℃/min；10℃/min；15℃/min；20℃/min；25℃/min，線性與非線性溫變。）
8.制冷系統(tǒng)：*壓縮機及制冷配件模塊化機組設計，方便日常維護與保養(yǎng)。
9.制冷方式：機械壓縮單級制冷或二元復疊制冷（風冷或水冷）。
10.加熱系統(tǒng)：進口SUS304#不銹鋼鰭片式耐熱、耐寒加熱管，加熱空氣式控溫。
11.節(jié)能方式：冷端PID調節(jié)（即加熱不制冷，制冷不加熱），比平衡調溫方式節(jié)能30%。
12.標準配置：觀測窗一個；LED視窗燈一支；保險管2支；物料架2套。
13.噪音處理：整機運行時≤60dB（*），滿足萬級高精無塵環(huán)境車間制備工藝需求。
14.前端空氣經(jīng)干燥過濾器處理，產(chǎn)品測試區(qū)及附近無明顯結露現(xiàn)象。設備可以連續(xù)運轉不需進行除霜。
15.保護裝置：壓縮機過載、過流、超壓保護、漏電保護、內(nèi)箱超溫保護、加熱管空焚保護。
16.電源：AC220V(三線制）±10% 或 AC380V（五線制）±5%。
17.溫度濕度偏壓試驗箱可供選擇的型號及規(guī)格如下：
型 號 內(nèi)箱尺寸（mm） 外箱尺寸（mm）
ZK-HWS -80L W400×H500×D400 W1000×H1330×D850
ZK-HWS-120L W500×H600×D400 W1000×H1530×D850
ZK-HWS-150L W500×H600×D500 W1000×H1850×D950
ZK-HWS-225L W500×H750×D600 W1000×H1680×D1050
ZK-HWS-408L W600×H850×D800 W1100×H1780×D1250
ZK-HWS-800L W1000×H1000×D800 W1500×H1930×D1250
ZK-HWS-1000L W1000×H1000×D1000 W1500×H1930×D1450
根據(jù)客戶需求非標定制......
溫度濕度偏壓試驗箱參考標準
1.JESD22-A101-D。
2.EIAJED- 4701-D122。
3.MIT-STD-883E Method 1010.7。
4.JESD22-A104-A。
5.EIAJED- 4701-B-131。
6.MIT-STD-883E Method 1008.2。
7.JESD22-A103-A。
8.EIAJED- 4701-B111。
9.MIT-STD-883E Method 1005.8。
10.JESD22-A108-A。
11.EIAJED- 4701-D101。