I試片
定量品質試片
I是帶有人工缺陷的標準磁粉檢測試片。用于:將激磁次數降至Z少,以提高生產效率;
確定磁場方向和相對的磁場強度;
平衡多向磁場。
產品簡介
詳細介紹
I試片
定量品質試片
I是帶有人工缺陷的標準磁粉檢測試片。用于:將激磁次數降至zui少,以提高生產效率;
確定磁場方向和相對的磁場強度;
平衡多向磁場。
小型I試片
與KSC-230相似,于工件上的小區域,每片上四個圓,可切割開,可單獨使用
件號:519631 型號:KSC-4-230小型I試片,每片上四個基圓,缺陷深度為試片厚度的30%,試片厚度為0.002英寸
產品關鍵字:KSC-4-230小型I試片