I試片
定量品質試片
I是帶有人工缺陷的標準磁粉檢測試片。用于:將激磁次數降至Z少,以提高生產效率;
確定磁場方向和相對的磁場強度;
平衡多向磁場。
產品簡介
詳細介紹
I試片
定量品質試片
I是帶有人工缺陷的標準磁粉檢測試片。用于:將激磁次數降至zui少,以提高生產效率;
確定磁場方向和相對的磁場強度;
平衡多向磁場。
不同深度的I試片
用于定量要求更高的作業,缺陷呈三個不同深度的同心圓環。
件號:521049 型號:KSC4-234不同深度的I試片,缺陷深度為試片厚度的20%、30%、40%,試片厚度為0.004英寸
產品關鍵字:KSC4-234不同深度的I試片