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TT230|涂層測(cè)厚儀|TT-230|膜厚計(jì)|覆層測(cè)厚儀|時(shí)代
產(chǎn)品概述
本儀器是一種超小型測(cè)量?jī)x，它能快速、無(wú)損傷、精密地進(jìn)行非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層厚度測(cè)量。
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
詳細(xì)介紹
TT230|涂層測(cè)厚儀|TT-230|膜厚計(jì)|覆層測(cè)厚儀|時(shí)代
產(chǎn)品概述
本儀器是一種超小型測(cè)量?jī)x，它能快速、無(wú)損傷、精密地進(jìn)行非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層厚度測(cè)量。可廣泛用于制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。由于該儀器體積小、測(cè)頭與儀器一體化，特別適用于工程現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量。
本儀器符合以下標(biāo)準(zhǔn)：
GB/T 4957─1985 非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層厚度測(cè)量 渦流方法
JB/T 8393─1996 磁性和渦流式覆層厚度測(cè)量?jī)x
JJG 818─93 《電渦流式測(cè)厚儀》
功能特點(diǎn)
本儀器采用了渦流測(cè)厚法，可無(wú)損傷地測(cè)量非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度（如銅、鋁、鋅、錫等基底上的琺瑯、橡膠、油漆鍍層）
?? 可進(jìn)行零點(diǎn)校準(zhǔn)及二點(diǎn)校準(zhǔn)，并可用基本校準(zhǔn)法對(duì)測(cè)頭的系統(tǒng)誤差進(jìn)行修正；
??具有兩種測(cè)量方式：連續(xù)測(cè)量方式（CONTINUE）和單次測(cè)量方式（SINGLE）；
??具有兩種工作方式：直接方式（DIRECT）和成組方式（Appl）
??具有刪除功能：對(duì)測(cè)量中出現(xiàn)的單個(gè)可疑數(shù)據(jù)進(jìn)行刪除，也可刪除存貯區(qū)內(nèi)的所有數(shù)據(jù)，以便進(jìn)行新的測(cè)量；
?? 設(shè)有五個(gè)統(tǒng)計(jì)量：平均值（MEAN）、zui大值（MAX）、zui小值（MIN）、
測(cè)試次數(shù)（NO．）、標(biāo)準(zhǔn)偏差（S．DEV）；
??具有米、英制轉(zhuǎn)換功能；
??具有打印功能，可打印測(cè)量值、統(tǒng)計(jì)值；
??具有欠壓指示功能；
??操作過(guò)程有蜂鳴聲提示；
??具有錯(cuò)誤提示功能；
??具有自動(dòng)關(guān)機(jī)功能。
技術(shù)參數(shù)
測(cè)頭類(lèi)型 | N | |
測(cè)量原理 | 電渦流 | |
測(cè)量范圍 | 0-1250um/0-40um（銅上鍍鉻） | |
低限分辨力 | 1μm（10um以下為0.1um） | |
探頭連接方式 | 一體化 | |
示值誤差 | 一點(diǎn)校準(zhǔn)（um） | ±[3%H+1.5] |
兩點(diǎn)校準(zhǔn)（um） | ±[（1%~3%）H+1.5] | |
測(cè)量條件 | zui小曲率半徑（mm） | 凸3 凹10 |
基體zui小面積的直徑（mm） | ф5 | |
zui小臨界厚度（mm） | 0.3 | |
溫濕度 | 0~40℃ | |
統(tǒng)計(jì)功能 | 平均值（MEAN）、zui大值（MAX）、zui小值（MIN）、 | |
工作方式 | 直接方式（DIRECT）和成組方式（Appl） | |
測(cè)量方式 | 連續(xù)測(cè)量方式（CONTINUE）和單次測(cè)量方式（SINGLE） | |
上下限設(shè)置 | 無(wú) | |
存儲(chǔ)能力 | 15 個(gè)測(cè)量值 | |
打印/連接計(jì)算機(jī) | 可選配打印機(jī)/不能連接電腦 | |
關(guān)機(jī)方式 | 自動(dòng) | |
電源 | 二節(jié)3.6V鎳鎘電池 | |
外形尺寸 | 150×55.5×23mm | |
重量 | 150g | |