引力常量實驗儀/常量實驗儀 型號：DP-J4058
根據卡文迪許的扭稱實驗結構行改、小型化的儀器。用于演示觀察物體之間存在相互作用力的現象，測量有引力恒量G。
引力常量實驗儀/常量實驗儀 型號：DP-J4058
引力常量實驗儀/常量實驗儀 型號：DP-J4058根據卡文迪許的扭稱實驗結構行改、小型化的儀器。用于演示觀察物體之間存在相互作用力的現象，測量有引力恒量G。
型號：DP-J4058儀器參數：
可定性演示驗證有引力的存在，可定量測量引力常量G值，實驗相對誤差﹤5%。
密封膠相容性試驗箱/密封性試驗箱 型號：DP-UV2004
密封膠相容性試驗箱（DP-UVA-340相溶性紫外線輻射照試驗箱,）是GB16776-2005《建筑用硅酮結構密封膠》（附錄A相容性試驗）中的主要檢測儀器之。
儀器具有作狀態記憶、溫度自動控制及輻照時間計時能。當輻照時間到時能自動停機和報警。輻照過程中若外界停電，當恢復供電時，自動啟動并繼續輻照試驗，計時器行累加計時。
儀器滿足GB16776-2005《建筑用硅酮結構密封膠》（附錄A相容性試驗）對密封膠相容性試驗箱（DP-UVA-340）的要求。
主要標：
1、紫外線熒光燈率： 40Ｗ×4支
2、溫度測量范圍： 0～65℃
3、溫度控制度： ±0.5℃
4、輻照時間設定值： 0～999小時59分鐘
5、加熱器率： 200Ｗ
6、試驗箱外形尺寸： 1250×350×690mm
7、電 源： 220VAC±10% 2kVA
8、殼 體： 不銹鋼
渦流測厚儀 型號:DP-ED400
DP-ED400型渦流測厚儀是DP-ED300型測厚儀的改型，儀器性能大幅度提。
儀器適于測量各種非磁性金屬基體上緣性覆蓋層的厚度。主要用于測量鋁合金型材表面的陽氧化膜或涂層厚度，還可用于測量其它鋁材料、鋁件表面的陽氧化膜或涂層厚度，以及其他有色金屬材料上緣性覆蓋層的厚度，測量塑料薄膜及紙張厚度。
儀器適于在現場、銷售現場或施現場對產品行快速、無損的膜厚檢查， 可用于檢驗、驗收檢驗和質量監督檢驗。
儀器符合家標準GB/T4957-2003 《非磁性金屬基體上非導電覆蓋層厚度測量渦流法》。
儀器特點
DP-ED400型渦流測厚儀與DP-ED300型相比，具有如下特點：
＊量程寬 DP-ED400型的量程達到0～500μm。
＊度 DP-ED400型的測量度達到2%。
＊分辨率 DP-ED400型的分辨率達到0.1μm。
＊校正簡便 只校正“0"和“50μm"兩點，即可在量程范圍內保證度。
＊基體導電率影響小 基體材料從純鋁變化到各種鋁合金、紫銅、黃銅時，測量
誤差不大于1～2μm。
＊可靠性提 采用集成度、穩定性電子器件，電路結構優化，儀器可靠性
提。
＊穩定性提 采用的溫度補償，測量值隨環境溫度的變化很小。儀器
校正次可在現場長期使用。
＊探頭線壽命長 采用德口的，在德測厚儀上使用的探頭線，探頭線壽命
可大大延長。
＊探頭芯壽命長 采用強度磁芯材料，微調了探頭，探頭芯壽命可大大延
長。
＊探頭可互換 外接式探頭，探頭損壞后，使用者可自行更換備用探頭。儀器無
需返廠維修。
測量范圍： 0～500μm
測量度： 0～50μm：±1μm；
50～500μm：±2%
分 辨 率： 0～50μm：0.1μm、
50～500μm：1μm；
0～500μm：1μm（可選）
使用溫度： 5～45℃
外形尺寸： 150mm×80mm×30mm
重 量： 260g
渦流測厚儀/便攜式渦流測厚儀 型號：DP-ED300
DP-ED300型渦流測厚儀是種小型便攜式儀器。性能穩定、測量準確、重現性好、經濟耐用，符合家標準GB/T4957-2003 《非磁性金屬基體上非導電覆蓋層厚度測量 渦流法》。儀器多次通過家計量的性能試驗，獲得計量器具許可證。
DP-ED300型渦流測厚儀，用于測量非磁性金屬基體上非導電覆蓋層的厚度。主要用于測量鋁合金型材表面的陽氧化膜或涂層厚度，還可用于測量其它鋁材料、鋁件表面的陽氧化膜或涂層厚度。
儀器適于在現場、銷售現場或施現場對產品行快速無損的膜厚檢查。可用于檢驗、驗收檢驗和質量監督檢驗。
儀器在內鋁型材、鋁門窗、監督、程質檢等行業得到廣泛應用，得到用戶的廣泛信與好評。
儀器特點
﹡校正箔片 作為儀器的計量基準，校正箔片經過家計量檢測，附有檢測
報告。
﹡探頭 對容易受損的探頭做了耐久性，具有防磕碰、防水等防護能。
﹡探頭線 日本口的探頭線使用壽命較長。
﹡儀器防護套 結實的透明塑料儀器套，可保護儀器免受損傷和污染。
﹡經久耐用 DP-ED300型測厚儀對于惡劣的使用環境，頻繁的測量操作適應性較
強。在鋁型材行業十幾年的使用證明，它是種性能優良、可靠實用的儀器
測量范圍： 0～150μm
測量度： ±3%
分 辨 率： 0.1μm
耗： 0.06W
外形尺寸： 150mm×80mm×30mm
重 量： 280g
標準配置
主機 1臺
探頭 1支
基體 1塊（6063合金）
校正箔片 1套4片（附檢測報告）
使用說明書 1份
合格證 1份
保修單 1份
手提式儀器箱 1個
可調溫露點儀/露點儀/在中空玻璃點儀 型號：DP-TW-25
1.用途：
DP-TW-25型可調溫露點儀為符合美ASTM E546和E576標準的中空玻璃露點檢測設備。該設備為便攜型的檢測中空玻璃露點的設備，可對水平放置或垂直放置的樣品行測量。DP-TW-25型可調溫露點儀具有冷阱溫度調節范圍大、溫度調節梯度小、冷容量大（規定試驗時間內溫度波動小）、冷散失量小、試驗成本低等特點,在中空玻璃廠家、科研院所、檢測中心及建筑程上已得到了廣泛的應用。
２.主要標:
1. 冷阱有效直徑：Φ25.4mm;
2. 干冰筒容積：Φ75×145mm；
3. 溫度調節范圍：-10至-60℃；
4. 溫度調節梯度：≤±2℃；
5. 溫度波動量：±2℃；
6. 溫度調節示表（百分表）準確性≤±10μm；
7. 數顯溫度計示準確性≤±1℃；
8. 試驗方式：水平樣品或垂直樣品；
注:產品詳細介紹資料和上面顯示產品圖片是相對應的
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