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GB/T 5170.9-2008標(biāo)準(zhǔn)介紹

GB/T 5170.9-2008是關(guān)于《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 太陽輻射試驗設(shè)備》的標(biāo)準(zhǔn)。

GB/T 5170的本部分規(guī)定了太陽輻射試驗設(shè)備的檢驗項目、檢驗用主要儀器及要求、檢驗負(fù)載、檢驗條件、拉驗方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗結(jié)果、檢驗周期等內(nèi)容。

本部分通用于對GB/T 2423.24《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法 試驗Sa:模擬地面上的太陽輻射》所用試驗設(shè)備的檢驗/驗收檢驗和周期檢驗。

本部分也適用于類似試驗設(shè)備的檢驗。

GB/T 5170目前包含以下凡部分：

-GB/T5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 總則

-GB/T 5170.2--2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 溫度試驗設(shè)備

-GB/T5170.5- 2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法濕熱試驗設(shè)備

-GB/T 5170. 8-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 鹽霧試驗設(shè)備

-GB/T 5170. 9-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 太陽輻射試驗設(shè)備

-GB/T5170. IO-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法高低溫低氣壓試驗設(shè)備

-GB/T5170. 11-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 腐蝕氣體試驗設(shè)備

-GB/T 5170. 13 - 2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 振動(正弦)試驗用機械振動臺

-GB/T 5170. 14-1985 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 振動(正弦)試驗用電動振動臺

-GB/T5170. 10-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 振動(正弦)試驗用液壓振動臺

-GB/T5170.16-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 穩(wěn)態(tài)加速度試驗用離心機

-GB/T 5170. 17-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 低溫/低氣壓/濕熱綜臺順序試驗設(shè)備

-GB/T 5170.18-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度/濕度組臺循環(huán)試驗設(shè)備

-GB/T 5170,.19-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基率參數(shù)檢定方法溫度/振動(正弦)綜合試驗設(shè)備

-一GB/T 5170.20--2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 水試驗設(shè)備

本部分是GB/T5170的第9部分。

▼GB/T 5170.9-2008第三方檢測機構(gòu)

GB/T 5170.9-2008PDF資料

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