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當(dāng)前位置：上海凱朗儀器設(shè)備廠>>技術(shù)文章>>冷熱沖擊箱滿(mǎn)足標(biāo)準(zhǔn)條件
冷熱沖擊箱適用于國(guó)防工業(yè),航空工業(yè)、兵工業(yè)、自動(dòng)化零組件、汽車(chē)部件、電子電器儀表零組件、電工產(chǎn)品、塑膠、化工業(yè)、食品業(yè)、 BGA、PCB基扳、電子芯片 IC、半導(dǎo)體陶磁制藥工業(yè)及相關(guān)產(chǎn)品等設(shè)備在周?chē)髿鉁囟燃眲∽兓瘲l件下的適應(yīng)性試驗(yàn)(沖擊)，適應(yīng)于儀器、儀表、電工、電子產(chǎn)品整機(jī)及零部件等作溫度快速變化或漸變條件下反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害，可確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì),從精密的IC到重機(jī)械的組無(wú)一不需要它的理想測(cè)試工具.
冷熱沖擊箱滿(mǎn)足標(biāo)準(zhǔn)：
1. 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
2. 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
3. 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
4. 低溫試驗(yàn)、試驗(yàn)A
5. 高溫試驗(yàn)、試驗(yàn)B
6. 溫度變化試驗(yàn)、試驗(yàn)N
7. 試驗(yàn)N
8. 國(guó)軍標(biāo)GJB150.3-86
9. 國(guó)軍標(biāo)GJB150.4-86
10. 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法
11.電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法
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