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 安東帕的MCR 系列流變儀之對流控溫系統 (CTD) 具有的溫度控制性能，非常利于測量熔體和固體 (DMTA) 以及薄膜纖維的拉伸流變。CTD 系統采用對稱設計，可以保證對所有測量系統（從平行板到固體夾具）進行無梯度的溫度控制，從而確保測量聚合物熔體、玻璃熔體、金屬熔體和固體時獲得*測量結果。此款對流溫控設備設計新穎，附件全面，是資深流變學家的*之選。

 

CTD系統可通過zui高精度溫控裝置進行測量，從室溫到180 °C、450 °C、620 °C 或 1000 °C。可以選擇液氮冷卻，能夠進行低至-150 ºC 的測量。采用帕爾貼系統進行冷卻時，溫度低至 -20 ºC (CTD 180)，快速輕松地轉換配件。

CTD 180濕度配件

 

光波爐設備 CTD 180 的濕度選件可在受控的溫度和濕度條件下進行流變測量，以防止樣品變干。可用于研究材料在受控的濕度環境下的特性。通過使用各種固定裝置，CTD 180 可在受控的濕度環境下測量從液體到固體的材料。

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