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400導(dǎo)體材料四端測量高溫電阻率測試儀用于：企業(yè)、高等院校、科研部門對導(dǎo)體材料電阻、電阻率和電導(dǎo)率數(shù)據(jù)測量需求.常用于金屬類導(dǎo)體材料及非金屬類導(dǎo)體材料測量.

1200導(dǎo)體材料四端測量高溫電阻率測試儀用于：企業(yè)、高等院校、科研部門對導(dǎo)體材料電阻、電阻率和電導(dǎo)率數(shù)據(jù)測量需求.常用于金屬類導(dǎo)體材料及非金屬類導(dǎo)體材料測量.

200高溫四探針雙電組合電阻率測試儀用于：企業(yè)、高等院校、科研部門對導(dǎo)電陶瓷、硅、鍺單晶（棒料、晶片）電阻率、測定硅外延層、擴散層和離子注入層的方塊電阻以及測量...

400高溫四探針雙電組合電阻率測試儀用于：企業(yè)、高等院校、科研部門對導(dǎo)電陶瓷、硅、鍺單晶（棒料、晶片）電阻率、測定硅外延層、擴散層和離子注入層的方塊電阻以及測量...

600高溫四探針雙電組合電阻率測試儀用于：企業(yè)、高等院校、科研部門對導(dǎo)電陶瓷、硅、鍺單晶（棒料、晶片）電阻率、測定硅外延層、擴散層和離子注入層的方塊電阻以及測量...

800高溫四探針雙電組合電阻率測試儀用于：企業(yè)、高等院校、科研部門對導(dǎo)電陶瓷、硅、鍺單晶（棒料、晶片）電阻率、測定硅外延層、擴散層和離子注入層的方塊電阻以及測量...

1000高溫四探針雙電組合電阻率測試儀用于：企業(yè)、高等院校、科研部門對導(dǎo)電陶瓷、硅、鍺單晶（棒料、晶片）電阻率、測定硅外延層、擴散層和離子注入層的方塊電阻以及測...

1200高溫四探針雙電組合電阻率測試儀用于：企業(yè)、高等院校、科研部門對導(dǎo)電陶瓷、硅、鍺單晶（棒料、晶片）電阻率、測定硅外延層、擴散層和離子注入層的方塊電阻以及測...

1400高溫四探針雙電組合電阻率測試儀用于：企業(yè)、高等院校、科研部門對導(dǎo)電陶瓷、硅、鍺單晶（棒料、晶片）電阻率、測定硅外延層、擴散層和離子注入層的方塊電阻以及測...

1600高溫四探針雙電組合電阻率測試儀用于：企業(yè)、高等院校、科研部門對導(dǎo)電陶瓷、硅、鍺單晶（棒料、晶片）電阻率、測定硅外延層、擴散層和離子注入層的方塊電阻以及測...

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400高溫四探針雙電組合電阻率測試儀用于：企業(yè)、高等院校、科研部門對導(dǎo)電陶瓷、硅、鍺單晶（棒料、晶片）電阻率、測定硅外延層、擴散層和離子注入層的方塊電阻以及測量...

600高溫四探針雙電組合電阻率測試儀用于：企業(yè)、高等院校、科研部門對導(dǎo)電陶瓷、硅、鍺單晶（棒料、晶片）電阻率、測定硅外延層、擴散層和離子注入層的方塊電阻以及測量...

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1400高溫四探針雙電組合電阻率測試儀用于：企業(yè)、高等院校、科研部門對導(dǎo)電陶瓷、硅、鍺單晶（棒料、晶片）電阻率、測定硅外延層、擴散層和離子注入層的方塊電阻以及測...

經(jīng)濟型數(shù)顯電壓降測試儀1.插頭插銷與連接插頭引出線等類似接線口的電壓降.從而判斷接線口優(yōu)劣.2.適用于測量開關(guān)觸點、繼電器、開關(guān)、線材線束、壓接線端子、連接器等...

100A實用型直流電壓降測試儀直流恒流源，電流可測試到1000A；數(shù)顯壓降，電流，電壓；電流負載測量,測量開關(guān)觸點、繼電器、開關(guān)、線材線束、壓接線端子、連接器等...

200A實用型直流電壓降測試儀直流恒流源，電流可測試到1000A；數(shù)顯壓降，電流，電壓；電流負載測量,測量開關(guān)觸點、繼電器、開關(guān)、線材線束、壓接線端子、連接器等...