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Keithley 4200A-SCS 半導體特性分析系統
使用 吉時利 4200A-SCS 半導體分析儀 加快半導體設備、材料和工藝開發的探索、可靠性和故障分析研究。 最高性能參數分析儀，提供同步電流-電壓 (I-V)、電容-電壓 (C-V) 和超快脈沖 I-V 測量。
Keithley 4200A-SCS 參數分析儀 概述
Keithley 4200A-SCS 參數分析儀
參數查看，快速清晰。
大膽發現從未如此容易。 4200A-SCS 參數分析儀可將檢定和測試設置的復雜程度降低高達 50%，提供清晰且不折不扣的測量和分析功能。 另外，嵌入式測量專業知識可提供測試指南并讓您對結果充滿信心。
特點
內置測量視頻采用英語、中文、日語和韓語
使用數百個用戶可修改應用測試開始您的測試
自動實時參數提取、數據繪圖、算數函數
Keithley 4200A-SCS 參數分析儀
測量、 切換、 重復。
4200A-CVIV 多通道切換模塊自動在 I-V 和 C-V 測量之間切換，無需重新布線或抬起探頭端部。 與競爭產品不同，四通道 4200A-CVIV 顯示器提供本地可視查看，可快速完成測試設置，并在出現意想不到的結果時輕松排除故障。
特點
無需重新布線即可將 C-V 測量移動到任何設備終端
用戶可配置低電流功能
個性化輸出通道名稱
查看實時測試狀態
Keithley 4200A-SCS 參數分析儀
檢定、 自定義。
簡單地說，4200A-SCS 可以*自定義且全面升級，您可以對半導體設備、新材料、有源/無源組件、晶片級可靠性、故障分析、電化學或幾乎任何類型的樣本執行電氣檢定和評估。
特點
NBTI/PBTI 測試
隨機電報噪聲
非易失內存設備
穩壓器應用測試
Keithley 4200A-SCS 參數分析儀
帶分析探測器和低溫控制器的集成解決方案。
4200A-SCS 參數分析儀支持許多手動和半自動晶片探測器和低溫控制器，包括 Cascade MicroTech、Lucas Labs/Signatone、MicroManipulator、Wentworth Laboratories、LakeShore Model 336 低溫控制器。
特點
“點擊"測試定序
“手動"探測器模式測試探測器功能
假探測器模式無需移除命令即可實現調試
Keithley 4200A-SCS 參數分析儀
降低成本并保護您的投資
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