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產品簡介
詳細介紹
Thick 680 x熒光（SANX）鍍層測厚儀是根據多年的貴金屬檢測技術和經驗，以*的產品配置、功能齊全的測試軟件、友好的操作界面來滿足貴金屬的成分檢測的需要，人性化的設計，使測試工作更加輕松完成
x熒光（SANX）鍍層測厚儀性能特點
專業貴金屬檢測
智能貴金屬軟件，與儀器相得益彰
任意多個可選擇的分析和識別模型
多變量非線性回收程序
x熒光（SANX）鍍層測厚儀技術指標
X射線激發系統 垂直上照式X射線光學系統
空冷式微聚焦型X射線管，Be窗
標準靶材：Rh靶；任選靶材：W、Mo、Ag等
X射線管：管電壓50KV，管電流1mA
可測元素：Ti～U
檢測器：正比計數管
樣品觀察：CCD攝像頭
測定軟件：薄膜FP法、檢量線法
Z軸程控移動高度 20mm
標準配置
X射線管，正比記數盒，高清攝像頭，高度激光，信號檢測電子電路。