目錄:先鋒科技（香港）股份有限公司>>激光與量測>>動態干涉儀>> 動態干涉儀
| 產地類別 | 進口 | 價格區間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 綜合 |
有別于基于傳統 Fizeau 干涉儀的方法，采用位相檢測方法直接構建的動態干涉儀既不需要移動待測元件多次曝光，也不需要采用偏振等復雜的光學手段，針對待測元件進行一次測量即可獲得其反射面型或透過波差；Kaleo-Multiwave 多色動態干涉儀可用于光學元件面型檢測、透過波差測試、大型望遠鏡系統測試及實時調整等。大動態范圍像差測試能力使其可測平面 / 球面波而無需中繼鏡，無色差檢測能力允許使用多個波長甚至白光進行測試。Kaleo-Multiwave 集成了可切換波長的準直光源，可以對大口徑鏡片進行直接或對比測量。
• 紫外、可見、近紅外、短波紅外、中遠紅外等多個波長可訂制
• 納米級位相分辨率
• 超高動態范圍，>600 條紋數
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