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納米粒度分析儀可以檢測低濃度的納米物料

2017-11-15  閱讀(349)

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納米粒度分析儀 型號:SYM-3 貨號:ZH10204 
產品簡介:
儀器通途:檢測粒度分布和分散體系穩定性,不但可以檢測低濃度的納米物料,可對高濃度納米物料直接進行檢測,而且在檢測納米顆粒的粒度的同時還可進行納米樣品分散體系穩定性檢測。
測量原理:光子交叉相關光譜法(PCCS),可以完消除多重散射效應對于測試結果的影響,測試結果的真實準確。使得測試結果與濃度關,節約測試時間,同時也好的提高了測量的重復性。
測量范圍: 1~10000nm,可測懸浮液,乳濁液,微乳濁液等體系
數據處理:采用不同的計算方法,可以給出納米顆粒的平均粒徑和粒徑分布的詳細數據
光    源:一穩頻氦氖激光,波長632.8nm,功率10mw,可通過軟件調節控制激光功率大小
測量:雙激光束、雙檢測器、光纖傳輸
溫度系統:15~50 ℃,通過軟件自動控制溫度,溫度穩定性≦0.05 ℃
測試時間:2~5分鐘,測試過程中實時動態監控光強波動和粒度大小。
 

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