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高精度薄膜測厚儀(0.001μm)
型號：DRK-204C
薄膜檢測儀對薄膜，測量厚度、均勻性、薄膜彈性模量等，并且可以與計算機連接通訊，實現數據自動處理，從而提高了檢驗速度，了檢測人員的勞動強度。該儀器對環境溫度波動不敏感，經濟實用，適合于%種薄膜企業的，控制和計量檢測單位或的檢測使用。
構成： 由光電傳感器、測量座、抬落、數顯表等部分組成。
特點：檢定快速，準確。測量值由數顯表直接顯示，讀數方便，減少人為讀數誤差；%特的設計使儀器結構穩定性很高，溫度穩定性很好；測量重復性好，漂移量很小。可實現位置清零、
公/英制轉換、預先置數、自動求，值和，值等多種功能；可通過與計算機連接通訊實現測量結果的自動記錄、自動處理、打印及統計分析等；對環境溫度波動相對不敏感，現有基層計量室不
提高溫控要求即可使用。
主要參數
數顯分辨率：0.001μm
示值誤差：±(0.4+0.04L)μm
測量范圍：0-10mm
