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試塊CSL-Ⅱ/CSL-Ⅲ
最近更新時間:2020-8-3
提 供 商:上海如慶電子科技有限公司資料大?。?/span>158.7KB
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試塊CSL-Ⅱ/CSL-Ⅲ|上海如慶電子科技有限公司提供
⑴ CSL-Ⅱ試塊:可利用A孔測定70°探頭的靈敏度余量,也可用A、B孔校正橫波的探測范圍和時基線。試塊中的φ2.5mm橫通孔可作為檢驗儀器的近區(qū)探測能力。如圖1-9所示。
⑵ CSL-Ⅲ試塊:主要利用φ1.5平底孔對37°探頭靈敏度余量的測定 。如圖1-10所示。