蘇州勒豐精密儀器有限公司（德日維修部）專業從事日本三豐，德國馬爾等品牌，以“質量*”為宗旨，向范圍的廣大市場提供千分尺，卡尺等量具；三坐標測量機，形狀測量系統，視像測量系統，光學儀器等系統精密測量儀以及專業維修服務中心。公司技術力量雄厚，多名工程師都是來自世界*的量具生產企業，配件采用日本*，計量試驗室儀器都是進口測量儀器，為客戶解決維修后精度不良的后顧之憂，品質服務由計量質量檢測部門支持并出具相關維修產品的檢測報告，并與日本三豐“Mitutoyo”總代理建立有長期穩定的合作關系。是大陸地區*的量具量儀銷售及維修服務商之一。

1 µ m 以下的高精度測量

內部發熱zui小化：

·控制器被放置在主機外部，從而排除主機發熱產生的影響。

·包括外置控制器全部采用緊湊設計，占地面積小。

超高精度玻璃光柵尺：

·每個STRATO-Apex 的軸上所安裝的超高精度水晶玻璃光柵尺幾乎無熱膨脹（線性膨脹系數0.01 × 10-6/ ?C）并結合分辨率為2/100 µm 的高性能反射線性編碼器，創造了超高精度測量裝置。

玻璃光柵尺采用*的保護方法使安裝面和玻璃光柵尺線性膨脹系數之間的不同導致的滯后誤差zui小化。

防振臺裝置為標準附件：

· 安裝主機的地板的振動將導致測量值的變化。STRATO-Apex 系列裝備有使用自動調水平氣墊的防振臺裝置。防振臺裝置不僅可以避免到達主機的地板振動，還有用傳感器檢測由于個別軸的移動和工件放置引起的負載變化，并能迅速將主裝置恢復至水平方向。

提供移動的zui高速度和精度 — 集成關鍵測量技術

STRA TO-Apex 776   STRATO-Apex 7106   STRATO-Apex 9106  STRATO-Apex 9166

zui大允許誤差

ISO 10360-2: 2001（JIS B 7440-2: 2003）

測頭使用：TP200

zui大允許誤差：MPEE =0.9+2.5 L/1000

測頭使用：TP200

zui大允許誤差：

MPE E =1.4+2.5 L/1000 （用于776/7106 型）

MPE E =1.5+2.5 L/1000 （用于9106/9166 型）

探測誤差

ISO 10360-2: 2001（JIS B 7440-2: 2003）

測頭使用SP25M

zui大允許探測誤差 MPEp =0.9

測頭使用MPP-310Q

zui大允許探測誤差MPEp =0.9

測頭使用TP200

zui大允許探測誤差MPEp =1.8

掃描精度性能參數（高密度掃描測量使用預設路徑）

ISO 10360-4: 2001（JIS B 7440-4: 2003）

測頭使用：SP25M

zui大掃描測頭允許誤差（zui大允許掃描試驗時間）：[秒] MPETHP=1.8 （MPT tHP =45）

測頭使用MPP-310Q

zui大掃描測頭允許誤差（zui大允許掃描試驗時間）[秒] ：MPETHP=2.0 （MPT tHP =70）