介電常數和介質損耗測試儀 型號：HAD-Y2855

HAD-Y2855 介電常數和介質損耗測試儀由Q表、測試裝置，電感器及標準介質樣品組成，能對緣材料行頻介質損耗角正切值(tanδ)和介電常數(ε)的測試。它符合標GB/T 1409-2006,美標ASTM D150以及IEC60250規范要求。

HAD-Y2855作頻率范圍是100kHz～100MHz,它能成作頻率內材料的頻介質損耗角(tanδ)和介電常數(ε)變化的測試。

本儀器中測試裝置是由平板電容器組成，平板電容器般用來夾被測樣品，配用Q表作為示儀器。緣材料的損耗角正切值是通過被測樣品放入平板電容器和不放樣品的Q值變化和厚度的刻度讀數通過公式計算得到。使用HAD-Y2852A或HAD-Y2853A數字Q表具有自動計算介電常數（ε）和介質損耗（tanδ）。

點： 
本公司新的自動Q值保持，使測Q分辨率至0.1Q，使tanδ分辨率至0.00005。

能對固體緣材料在100kHz～100MHz介質損耗角(tanδ)和介電常數(ε)變化的測試。

調諧回路殘余電感值低至8nH，保證100MHz的(tanδ)和(ε)的誤差較小。

LCD屏菜單式顯示多參數：Q值，測試頻率，調諧狀態，調諧電容值等。

Q值量程自動/手動量程控制。

DPLL合成發生1kHz～70MHz（HAD-Y2852D）, 50kHz～160MHz（HAD-Y2853D）測試信號。立信號源輸出口，

所以本機又是臺合成信號源。

測試裝置符合標GB/T 1409-2006,美標ASTM D150以及IEC60250規范要求。

介電常數測試儀  型號：HAD-Y2858

HAD-Y2858系列 介電常數測試儀由頻阻抗分析儀、測試裝置，標準介質樣品組成，能對緣材料行低頻介電常數(ε)和介質損耗角(D或tanδ) 的測試。它符合標GB/T 1409-2006,美標ASTM D150以及IEC60250規范要求。     

HAD-Y2858系列介電常數測試儀作頻率范圍是20Hz～1MHz,它能成作頻率內對緣材料的相對介電常數(ε)和介質損耗角 (D或tanδ)變化的測試。

HAD-Y2858系列中測試裝置是由平板電容器組成，平板電容器般用來夾被測樣品，配用頻阻抗分析儀作為示儀器。緣材料的介電常數和損耗值是通過被測樣品放入平板電容器和不放樣品的D值(損耗值)變化和Cp（電容值）讀數通過公式計算得到。

自動菌落計數儀系統 型號：HAD-HICCA

HAD-HICCA成像裝置

方便對焦的大景深1000像素（3264x2448像素）彩色拍攝儀，懸浮暗視野、背光可切換2平皿同時成像分析薄臺板

自動菌落計數儀系統適應培養皿：50～180mm及A5幅面內的矩形平板，同時測定2個90mm平皿（傾注、涂布、膜濾、螺旋平皿、3M紙片）

自動菌落計數儀系統HAD-HICCA菌落計數分析

自動識別統計：菌落智能識別，自動識別大規模團狀、鏈狀粘連的長形桿菌（顯微形態大片粘連的大腸桿菌、病菌孢子）及平皿上的各類菌落（含金色葡萄菌計數（標GB4789.37-2010）、大腸菌群測定（標GB/T4789.3-2010））?？勺詣有纬膳幚硐驅?，實現鍵式自動計數

紫外可見智能多參數測定儀型號;HAD-3BA

紫外可見智能多參數測定儀