四探針電阻率測試儀/四探針電阻率儀/四探針電阻率測定儀/電阻率測試儀型號：JH-WSP-25

硅料分選檢驗綜合儀是我公司款門為拉單晶廠和多晶鑄錠廠商硅料分選、檢驗、檢測而研發的。它可以快速準確測量硅料的電阻率。可以檢測所有類型的硅料：母合金摻雜濟電阻率檢測可以到0.0001-0.0999Ω﹡㎝，及各種碎片料、米粒料、片料，塊料，頭尾料、堝底料、邊皮料等等。

    產品點：

■電阻率測量：大屏幕清晰顯示硅料電阻率值，方便檢料快速分選

■ 電測量：本儀器采用芯片，可通過調節硅材料厚度，儀器可直接鎖定電，使測量使用更加簡便準確，本儀器可根據需要配備測試平臺， 利用測試平臺可以測試薄片電阻率

■ 四探針：次測量，顯示整電阻率值。

■ 采用了的恒源，能夠滿足寬范圍的電阻率測試要求

    作條件:

■ 溫度：23±2℃

■ 濕度：60%~70%

■ 無強磁場、不與頻設備鄰近

 標:

　低阻電阻率量程：0.0001~0.0999Ω﹡㎝　

　低阻測量度：到千分位（即到小數點后四位）

注：低阻般用于測量低于0.1.0Ω﹡㎝以下硅料，如母合金，于0.1.0Ω﹡㎝

般用阻測量。

使用方法：

1， 接好電源線，將儀器接上220V交電，供電，若無電則需要檢查或更換在儀器后面的電源插頭處的保險絲，規格為1A,或檢查電源線是否插好。

2，面板數顯表測量時顯示為電阻率值，按鍵調節開關調節硅材料厚度，硅材料厚度小于3.98mm按實際厚度對照厚度調節按鈕調節，如2.18就調到218，厚度大于3.98的都調到3。98，厚度調好后選擇阻或低阻可直接測試即可

測量電阻率：

1校厚：）四探針針頭壓住待測樣片，根據所測硅料厚度調動按鈕至所要求厚度，

測試四探針筆：

1般情況下，更換鋼針之類，不需要拆開探頭，只需要用拔出要更換的鋼針，再重新安裝新針，如果斷針在孔內并且不拆開難以取出，按照以下步驟行操作：

A松開筆身尾端側面的固定小螺絲，輕輕脫下尾航空插口，保證探針頭旋轉時同步旋轉，防止扭線斷線，短接，

B輕輕擰開探針頭子，然后小心將銅片拉出，記住七片緣片與銅片之間的位置，（四片銅片每片見夾片緣片，兩邊的銅片外側各兩片），將斷針從銅片卡口座里取下即可，

C別注意定不能將銅片取下時的位置錯亂，銅片位置按照航空頭四芯1234接線綠紅黃黑的順序字排列，并且銅片之間按照寬窄順序互相交叉排列，以免短接。

D安裝時銅片及緣片按照拆下時的排列輕輕塞探針頭子，并將探針頭子擰緊，再將尾航空頭插上，并且旋緊小螺絲，

E將針裝好，注意針頭針尾方向，尖頭為探針頭

注意事項：

1儀器操作前請您仔細閱讀使用說明書，規范操作。

2輕拿輕放，避免儀器震動，水平放置，垂直測量，

3儀器不使用時請切斷電源，連接線經常拔下，避免灰塵入航空插引起短接等現象，

4探針筆測試結束，套好護套，避免人為斷針，