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便攜式電阻測試儀/便攜式電阻率儀/便攜式電阻率/方阻測試儀 型號：KDK-KDY-1B
便攜式電阻測度儀是用來測量硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠等材料方塊電阻的小型儀器。
本儀器按照半導體材料電阻率的際及家標準測試方法有關規定。
它主要由電器測量份（主機）及四探頭組成，需要時可加配測試架。
為減小體積，本儀器用同塊數字表測量電及阻率。樣品測試電由寬的恒源提供，隨時可行校準，以確保電阻率測量的準確度。因此本儀器不僅可以用來分選材料也可以用來作產品檢測。對1～100Ω·cm標準樣片的測量誤差不過±5%，在此范圍內達到家標準二機的水平。
2、測試儀結構及原理
測試主機由主機板、前面板、后背板及機箱組成，數字表、測試電換檔開關、電阻率/方阻轉換開關、校準/測量變換開關以及電調節電位器均裝在前面板上。后背板上只裝有電源插座、電源開關、保險管及四探針連接插座。機箱底板上字裝了主機板。前后面板與主機板之間的聯接均采用接插件，便于拆卸維修。
參數：
測量范圍：
可測量電阻率：0.1～1999Ω·cm。
可測方塊電阻： 1～19990Ω/□
當被測材料電阻率≥1999Ω·cm數字表顯示0.00。
（2）恒源：
輸出電：DC 0.01mA～1mA分兩檔
0.1mA量程：0.01～1mA 連續可調
1mA量程：0.1mA ～1mA連續可調
恒度：各檔均優于±0.1%
測量范圍：0～199.9mv
靈敏度：100μv
準確度：0.2%（±2個字）
AC：220V ±10% 50/60HZ 率8W
相對濕度≤80%
重量：2.2 公斤
體積：寬210×100×深240（mm）
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