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SM-114日本得樂測厚規

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發布日期：
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2025年3月10日
2025年9月10日
上海上海市
日本
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【產品簡介】

SM-114測厚規
品牌：TECLOCK（日本得樂）
用于紡織布料、薄膜、紙張等物品的厚度測量，加長型測臂具有更大的測量深度。
測量范圍：0-10mm
Z小讀數：0.01mm
測量深度：120mm

【詳細說明】

SM-114測厚規

品牌：TECLOCK（日本得樂）

用于紡織布料、薄膜、紙張等物品的厚度測量，加長型測臂具有更大的測量深度。

測量范圍：0-10mm

zui小讀數：0.01mm

測量深度：120mm

原理：在一定的面積與一定荷重下，測量出的物件厚度。指針式測厚規可以作為物品檢測時的基礎測量。

技術參數：

指式方式：指針式

測量范圍：0-10mm

zui小讀數：0.01mm

測量深度：120mm

體積大小：（W*D*H）190*23*145mm

重量：250g

測厚儀系列：

英國牛津 CMI 233測厚儀

英國牛津 CMI153 便攜式涂鍍層測厚儀

北京時代TT210數字式涂層測厚儀

北京時代TT220數字式涂層測厚儀

TT230數字式涂層測厚儀

日本得樂測厚規

國產測厚規

國產數顯測厚規

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：李

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：litianbao320


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上海源琦檢測儀器有限公司

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SM-114日本得樂測厚規