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溫度對于ASD光譜儀分析有什么影響？
ASD光譜儀分析主要用于在現場進行環境土壤和沉積物篩選。該儀器可快速執行大量分析并完成測試程序，有助于大幅度降低對實驗室分析的需求以及相關的成本。符合人體工程學的流線型機身，處理器與儀器一體化設計，IP54防塵防水。
ASD光譜儀分析用于在整個行業范圍內驗證鍍層的厚度和成分。可在針對管材、閥門、焊縫、部件和壓力容器的PMI應用中，進行快速、精確的化學成份和合金成份的辨別。其基本的無損性質，加上快速測量和結構緊湊的臺式儀器等優點，能實現現場分析并立即得到結果。
XRF指X射線熒光，是一種識別樣品中元素類型和數量的技術。對于鍍層分析，儀器將此信息轉換為厚度測量值。
那么溫度對于ASD光譜儀分析有什么影響？接下來我們一起來看看吧。
屬于精密測量儀器，光學系統微小的變化(如結構件的熱脹冷縮等)即會引起很大的測量誤差，因此光譜儀在設計時會對光學系統進行恒溫控制。但即使如此，外界溫度的變化仍會影響恒溫系統的熱平衡狀態，引起測量誤差，因此為了保證測量結果的精密度，應盡可能減小使用過程中環境溫度的波動，大不應超過5℃。
另外，廠家對儀器的使用溫度都有嚴格的限制，一般在10-30℃之間。首先是因為儀器在工廠校準時的溫度在20℃左右，10-30℃內使用可以獲得較好的測量精度，其次儀器的部件及設計在10-30℃范圍內具有更高的可靠性，超出該溫度范圍使用，會引起可靠性下降，嚴重的還會引起儀器故障；另外，光譜儀一般把光室的溫度控制在34~38℃之間的某個溫度點(不同型號儀器恒溫溫度不同)，為了確保光譜儀的恒溫控制正常工作，儀器使用的環境溫度必須與光譜儀恒溫溫度有一定的溫差，因此要求儀器使用環境溫度低于30℃。
因此，在使用過程中應嚴格控制環境溫度，配備足夠功率的空調系統。