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這款KPFM開爾文探針力顯微鏡,SKPM掃描開爾文探針力顯微鏡(Kelvin Probe Force Microscopy)可以訪問從50mm到350mm的樣品的二維和三維功函數圖。掃描開爾文探針的功函數分辨率為1-3meV，探針直徑的空間分辨率為0.05mm，可對功函數、接觸電位差和伏特電位進行可靠、可重復的測量。
KPFM開爾文探針力顯微鏡,SKPM掃描開爾文探針力顯微鏡可以選配高性能的光學/法拉第外殼屏蔽外殼，使其免受不必要的快速變化的環境條件、電磁干擾，并為我們的環境壓力光電發射光譜和表面光電壓附加模塊提供了的平臺。
KPFM開爾文探針力顯微鏡,SKPM掃描開爾文探針力顯微鏡特色
用開爾文探針測量功函數
1-3mev的功函數分辨率
掃描范圍從50毫米到300毫米
掃描分辨率等于針尖直徑
自動高度調節
KPFM開爾文探針力顯微鏡,SKPM掃描開爾文探針力顯微鏡應用
防腐，碳鋼，薄膜，太陽能電池，氧化鉬，氧化鋅納米線薄膜，量子點，空穴傳輸，納米顆粒，石墨烯，有機發光二極管。
KPFM開爾文探針力顯微鏡,SKPM掃描開爾文探針力顯微鏡掃描結果
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