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進口光學膜厚儀,光學薄膜測厚儀
  • 進口光學膜厚儀,光學薄膜測厚儀
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貨物所在地:上海上海市

地: www.felles.cn/c

更新時間:2024-09-11 11:02:34

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光學膜厚儀是一款臺式光學薄膜測厚儀,可測量薄膜厚度,測量薄膜吸收率,測量薄膜透過率,測量薄膜反射率,測量薄膜熒光,也可測量膜層厚度,測量薄膜光學常量折射率n和k。測量薄膜厚度范圍:2nm -150um,波長范圍250-1700nm

光學膜厚儀是一款臺式光學薄膜測厚儀,可測量薄膜厚度,測量薄膜吸收率,測量薄膜透過率,測量薄膜反射率,測量薄膜熒光,也可測量膜層厚度,測量薄膜光學常量折射率n和k。
這套光學薄膜測厚儀,光學膜厚儀基于白光反射光譜技術,膜層的表面和底面反射的光VIS/NIR光譜,也是干涉型號被嵌入的光譜儀收集分析,結合多次反射原理,給出膜層的厚度和光學常數(n,k).
光學薄膜厚度測量儀到貨即可使用,僅僅需要用戶準備一臺計算機提供USB接口即可,操作非常方便。
進口光學膜厚儀
光學薄膜測厚儀,光學膜厚儀特點
易于安裝
軟件基于Windows系統,方便使用
**光學設計,良*系統表現
陣列光譜探測器保證快速測量
測量薄膜厚度和折射率高達5層
可測量反射,透射和吸收光譜
可用于實時在線的薄膜厚度和折射率測量
具有齊全的材料光譜舍數據庫
可升級到顯微分光光度計
適合不同襯底和不同薄膜厚度測量
寬帶光學薄膜測厚儀參數
波長范圍:250-1700nm
光點大小:500um - 5mm
樣品大小:200x200mm 或200mm 直徑
襯底厚度: 高達50um
測量薄膜厚度范圍: 2nm -150um
測量時間:***小2ms
精度:0.5%
重復精度:<1A
光學薄膜測厚儀,光學膜厚儀應用
半導體制造
液晶顯示屏測量
刑偵
生物膜測量
礦石地質分析
制藥醫學分析
光學鍍膜測量
功能薄膜MEMS測量
太陽能電池薄膜測量



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