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全光譜分析儀NIR-O是光譜全過程分析儀系統和在線光譜分析儀器,適合測量材料成分和物理特性。它是包括光譜儀,一個或多個NIR近紅外光譜探頭,光纖和OmniView的綜合過程分析軟件構成。
全光譜分析儀使用近紅外輻射從液體、氣體、玻璃和聚合物薄膜中收集光譜數據。光譜數據由OmniView軟件進行解釋，以確定材料的成分或物理特性，所有這些都是在具有實時挑戰性的工藝環境中進行的。
全光譜分析儀NIR-O全套實驗室分析儀系統
實驗室全光譜分析儀采用與全光譜過程NIR-O相同的光學組件進行設計。這使得實驗室中開發的校準可以直接移動到NIR-O現場分析儀，以實現無縫和精確的數據傳輸，具有高精度和可靠性。
實驗室全光譜分析儀是一個6通道近紅外（1000-2100nm）分析儀。實驗室和過程NIR-O都提供了出色的信噪比、波長穩定性、NIST可追蹤波長校準、雙光束光學和內置診斷。實驗室NIR-O包括SMS過濾器和用于硬件和光學性能常規驗證的腳本。使用6個可用通道中的一個，SMS現在位于分析儀內部，因此，該通道上還必須安裝光纖跨接電纜。實驗室NIR-O與所有導波探頭和流動池兼容，可用于滿足分析需求的任何組合。
全光譜分析儀中試工廠應用
中試工廠通常會在傳統的研究級實驗室分析儀和為現場條件開發的過程分析儀之間做出選擇。實驗室NIR-O的開發基于我們的NIR-O過程分析儀，然而，在實驗室環境中不必要的部件，如空調，被移除。這就產生了一個流線型的桌面分析儀，也可用于中試工廠操作。另一個好處是，當項目進入全面運行時，校準可以快速轉移到過程分析儀。
全光譜分析儀規格參數
| Product Name | LAB NIR-O |
|---|---|
| Analyzer Type | DG-NIR Spectrometer, Post-dispersed scanning grating |
| Product Part Number | |
| Bandwidth | 6.0 ± 0.3 nm (@1307 nm); 5.9-6.7 nm (Full Range) |
| Certifications | Optional CSA |
| Channels | 6 |
| Communications | Modbus TCP over Ethernet |
| Controller/Display | Touch Screen |
| Detector Type | Extended Range InGaAs with 2-stage TE cooler |
| Dimensions Enclosure (w x d x h) | 28.3 [719 mm] X 19.1 [484 mm] X 13.6 [346 mm] |
| Dual Beam | 1 reference channel for each 6 available sample channels |
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