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便攜式薄膜測厚儀是款便攜式光學薄膜厚度測量儀,用于透明或半透明單層薄膜或膜系的薄膜厚度測量,薄膜吸收率測量,薄膜透過率測量,薄膜反射率測量,薄膜熒光測量等，這款手持式薄膜測厚儀也可測量膜層厚度,測量薄膜光學常量,測量薄膜折射率n和k，薄膜厚度測量范圍為350-1000nm.
這款便攜式薄膜測厚儀不需要電線連接，也不需要實驗室安裝空間，它從USB連接中獲取工作電源，這種設計方便客戶移動測量，只需USB線纜從計算機控制測量即可。
這款便攜式薄膜測厚儀采用全球**的3648像素和16bit的光譜儀，具有超高穩定性的LED和熒光燈混合光源，光源壽命高達20000小時，
便攜式薄膜測厚儀產品特色
USB接口供電，不需要額外的線纜供電
超級便攜
方便現場使用
便攜式薄膜測厚儀參數
可測膜厚： 15nm-90微米；
波長范圍: 360-1050nm
探測器：3648像素Si CCD陣列，16bit A/D
精度：1nm
斑點大小：>0.5mm
光源：LED混合光源（ 360-1050nm )
所測樣品大小：10-150mm,
計算機要求：Windows XP, vista, Win7均可，USB接口；
尺寸：300x110x500mm
重量：600克
便攜式薄膜測厚儀應用
用于薄膜吸收率,透過率和熒光測量，
用于化學和生物薄膜測量，傳感測量
用于光電子薄膜結構測量
用于半導體制造
用于聚合物薄膜測量
在線薄膜測量
光學鍍膜測量、
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