目錄:孚光精儀（中國）有限公司>>高光譜成像系統>>高光譜成像分析>> FPIRI-HPR-IR近紅外高光譜分析儀
| 價格區間 | 面議 | 儀器原理 | 成像 |
|---|---|---|---|
| 儀器種類 | 實驗室級別 | 應用領域 | 環保,食品/農產品,生物產業,電子/電池,綜合 |
近紅外高光譜分析儀采用高光譜成像系統（HSI）技術,分析樣品化學成分和空間信息的產品信息,特別適合制藥,食品等質量檢測和異物檢查。
近紅外高光譜分析儀特點
連續實時監測
表面異物檢測
摻假檢測
不需要制備樣品
近紅外高光譜分析儀規格參數
速度：60米/分鐘
檢測能力：30噸/小時
功耗：2000W
傳送帶：400mm,500mm任選
控制：觸摸屏
重量：200kg
尺寸：1.8m x 1.9m x 1m
高光譜的異物發現
高光譜的異物發現
近紅外高光譜分析儀采用高光譜成像系統（HSI）技術,分析樣品化學成分和空間信息的產品信息,特別適合制藥,食品等質量檢測和異物檢查。
近紅外高光譜分析儀特點
連續實時監測
表面異物檢測
摻假檢測
不需要制備樣品
近紅外高光譜分析儀規格參數
速度：60米/分鐘
檢測能力：30噸/小時
功耗：2000W
傳送帶：400mm,500mm任選
控制：觸摸屏
重量：200kg
尺寸：1.8m x 1.9m x 1m
高光譜的異物發現
高光譜的異物發現
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