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WD4000半導(dǎo)體晶圓形貌測量機兼容不同材質(zhì)不同粗糙度、可測量大翹曲
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WD4000晶圓厚度測量設(shè)備可測各類包括從光滑到粗糙、低反射率到高反
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WD4000無圖晶圓厚度翹曲量測系統(tǒng)過非接觸測量,將晶圓的三維形貌進
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WD4000晶圓幾何形貌在線測量系統(tǒng)可實現(xiàn)砷化鎵、氮化鎵、磷化鎵、鍺
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WD4000系列晶圓膜厚測量設(shè)備可實現(xiàn)砷化鎵、氮化鎵、磷化鎵、鍺、磷
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膜厚測量儀本設(shè)備利用反射干涉的原理進行無損測量,測量吸收或者透
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WD4000系列晶圓幾何尺寸量測設(shè)備通過非接觸測量,將晶圓的三維形貌
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本設(shè)備利用反射干涉的原理進行無損測量,測量吸收或者透明襯底上薄
