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性能特點 :
實用的簡易型LCR電橋
帶背光20×2的字符液晶顯示
掃頻清零功能
四檔分選
高性價比 | |
簡要介紹: | TH2820型，采用微處理器控制的微型臺式儀器。可測量電感L、電容C、電阻R、阻抗Z，以及損耗因子D和品質因數Q六種zui基本的參數，可滿足各元件廠家和維修人員的測試要求。 | |
廣泛的測量對象： 無源元件：電容器、電感器、磁芯、電阻器、變壓器、芯片組件和網絡
元件等的阻抗參數測量。
半導體元件：電容器、電感器、磁芯、電阻器、變壓器、芯片組件和網
絡元件等的阻抗參數測量。
其它元件：印制電路板、繼電器、開關、電纜、電池等的阻抗評估。
介質材料：塑料、陶瓷和其它材料的介電常數的損耗角評估。
磁性材料：鐵氧體、非晶體和其它磁性材料的導磁率和損耗角評估。
半導體材料：半導體材料的介電常數,導電率和C-V特性。
液晶材料：液晶單元的介電子常數、彈性常數等C-V特性。 |
多種元件、材料特性測量能力
揭示電感器件的多種特性
TH2828/A的性能和20Hz-1 MHz的測試頻寬可以精確地分析磁性材料、電感器件的性能。
使用TH10301選件的100mA DC的偏置電流可以精確測量高頻電感器件、通訊變壓器，濾波器的小電流疊加性能。使用TH1775電流疊加裝置，可使偏置電流達40A以精確分析高功率、大電流電感器件。
精確的陶瓷電容測量
1kHz和1MHz是陶瓷材料和電容器的主要測試頻率。陶瓷電容器具有低損耗值的特征，同時其容量、損耗施加之交流信號會產生明顯的變化。
儀器具有寬頻測試能力并可提供良好的準確度，六位分辨率和自動電平控制（ALC）功能等，中以滿足陶瓷材料和電容器可靠、準確的測試需要。
液晶單元的電容特性測量
電容－電壓（C－Vac）特性是評價液晶材料性能的主要方法，常規儀器測量液晶單元的C－Vac特性遇到一個問題是zui大測試電壓不夠。
使用TH10301選件可提供分辨率為1%及zui高達20Vms的可編程測試信號電平，使它能在*條件下進行液晶材料的電容特性測量。
半導體材料和元件的測量
進行MOS型半導體制造工藝評價時，需要氧化層電容和襯底雜質密度這些參數，這些可從C－Vdc特性的測量結果推導出來。
20HZ－1 MHz的測量頻寬及高達40VDC的可編程偏置電壓方可方便地完成C-VDC特性的測量。
為了測試晶圓上的半導體器件，需要延伸電纜和探頭，儀器的2m/4m延伸電纜選件可將電纜延伸的誤差降至zui小。
各種二極管、三機管、MOS管的分布電竄也是本儀器的測試內容。 |
適應多種領域的測試需要
新材料、新元件的研究開發
TH2828/TH2828A具有的0.05%/0.1%基本準確度*提高了測量的可信度。儀器提供的六位分辨率可以檢測元件參數的細微變化，尤其對損耗器件的測試具有良好的性能。
提高生產效率
TH2828/TH2828A 30次/秒的測試速度可滿足大多數生產場合高效測試的需要，從而提高生產廠的產能。
內建比較器、電纜長度補償、Handler接口可方便地用于自動測試系統。
內建存儲器及USB外存裝置可大大減小操作時間并降低聽任錯誤。
應用廣泛的品質檢驗手段
儀器具備的20Hz-1 MHz的頻寬及5mVms-20ms的信號電平范圍可滿足絕大多數元件的檢測需要。
TH10301 及 TH1775的配置解決了器件直流偏置測量的要求。
提供徑向、軸向、SMD元件的多種測試夾具配置。 |
用戶友好的操作界面
簡化的前面板操作
儀器配置的320x240點陣的LCD顯示器使操作者可清晰地觀察測量結果，各種設定狀態一目了然，交互式軟鍵大大簡化了儀器操作。
非易失性存儲器以保存多種儀器設置
TH2828/A提供有內部非易失性存儲器可保存20組儀器測量設置，TH2828還具有外部USB存儲卡進行數據保存及多臺儀器統一進行數據設置/調用。這將減小參數的設置錯誤并提高用戶使用效率。
靈活的數據通訊方式
TH2828/TH2828A提供有GPIB并行通訊（TH2828A）接口，為多機通訊并組成自動測試系統提供了可能，同時，儀器還提供了低成本的RS232C串行通訊方式以方便地與計算機進行遠程通訊。 | |
技術參數:
| 測試參數 | L-Q, C-D, R-Q, Z-Q , Z-D | | 測試頻率 | 100 Hz, 120 Hz ,1 kHz | | 測試電平 | 0.3 Vrms （1±10%） | | 基本準確度 | 0.3% | | 顯示范圍 | L: 1 μH – 9.999 kH （ 100/120 Hz）
0.1 μH – 999.9 H （ 1 kHz）
C: 1 pF – 9.999 mF （100/120 Hz）
0.1 pF – 999.9 μF （1 kHz）
R, |Z|: 1 mΩ – 999.9 MΩ
D/Q: 0.0001 – 9999
Δ%: 0.0001% – 9999% | | 測量速度 | 3次/秒 | | 等效電路 | 串聯/并聯 | | 量程方式 | 自動/保持 | | 清零功能 | 開路/短路掃頻清零 | | 測量端 | 5端 | | 顯示方式 | 直讀、Δ、Δ% | | 比較器功能 | 四檔: NG / P1 / P2 / P3 | |
一般技術指標
| 工作溫度, 濕度 | 0℃ — 40℃, ≤90% RH | | 電源要求 | 198 V — 242 V AC, 47.5 Hz — 52.5 Hz | | 功耗 | ≤10 VA | | 尺寸（W×H×D） | 274 mm×110 mm×260 mm | | 重量 | 約2.3 kg | 訂貨信息： | 隨機附件
TH26004-1 開爾文測試電纜
可用選件
TH26001 四端測試夾具
TH26005 四端測試夾具
TH26006 軸向元件測試模塊（與TH26005配合使用）
TH26007 磁環測試夾具
TH26008 SMD 元件測試夾具
TH26009 SMD 元件測試鉗
TH26010 鍍金短路板
TH26011 四端開爾文測試電纜
TH26012 四端開爾文測試電纜 | |
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