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徠卡顯微系統(上海)貿易有限公司

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徠卡偏光顯微鏡DM2700P多領域科研與工業

參考價 250000
訂貨量 ≥1
具體成交價以合同協議為準
  • 公司名稱 北京儀光科技有限公司
  • 品牌 Leica/徠卡
  • 型號
  • 產地
  • 廠商性質 代理商
  • 更新時間 2025/8/13 13:31:07
  • 訪問次數 61

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  北京儀光科技,專注顯微形貌分析
  北京儀光科技有限公司是一家專門從事三維共聚焦白光干涉輪廓儀、臺式掃描電鏡/臺階儀/電鏡原位分析、各進口及國產品牌的金相顯微鏡、體式顯微鏡、偏光顯微鏡、超景深顯微鏡、大型掃描電子顯微鏡、超薄切片機、清潔度分析儀、金相及巖相制樣設備、顯微相機、冷熱臺、陰極發光臺、光學平臺等各類型科研分析儀器。提供制樣、顯微觀察、三維形貌分析和特殊應用檢測等全套分析檢測解決方案。
  我司代理西班牙Sensofar三維共聚焦白光干涉儀、德國徠卡等進口及國產各類型光學顯微鏡、安徽澤攸臺式掃描電鏡&臺階儀&電鏡原位分析、美國RMC超薄切片機/半薄切片機、德國蔡司大型掃描電鏡、丹麥司特爾金相制樣、英國Linkam冷熱臺、陰極發光臺、防震平臺等材料制備及微觀分析儀器。我們的客戶涵蓋高校、科研院所、農林、醫療、石油石化、地質、文博、船舶、汽車、工業材料、電子半導體、電力、能源、檢測分析等各個行業。我們致力于以開放的視野、專業的技術、優質的服務為科研和工業等用戶提供專業、全面的顯微形貌分析應用解決方案。
  愿景:讓科學研究和技術創新更便捷、更高效!
  使命:為材料用戶提供準確、可靠、全面的毫米級到納米級樣品制備及微觀形貌分析解決方案!

 

西班牙Sensofar共聚焦白光干涉儀、澤攸臺式電鏡&臺階儀&原位分析、徠卡等光學顯微鏡、RMC超薄切片機、Linkam冷熱臺

產地類別 進口 價格區間 10萬-30萬
應用領域 綜合

在材料科學、地質研究、生物醫學及工業質檢等領域,偏光顯微鏡作為揭示物質雙折射特性的核心工具,其性能直接影響研究成果的可靠性與生產效率。徠卡顯微系統推出的DM2700P研究級正置偏光顯微鏡,憑借模塊化設計、高精度光學系統與人性化操作體驗,成為科研機構與工業用戶探索微觀世界的得力伙伴。徠卡偏光顯微鏡DM2700P多領域科研與工業 

技術融合:多模式觀察滿足全場景需求

DM2700P突破傳統偏光顯微鏡功能單一的限制,通過透反射一體式主機設計,支持一鍵切換透射光與反射光觀察模式,覆蓋從透明薄膜到金屬鍍層的多樣化樣品分析需求:

  • 透射光觀察:支持明場、暗場、偏光、錐光及微分干涉相襯(DIC)模式,可清晰呈現地質薄片中礦物的干涉色、雙折射率等特征,助力礦物分類與成因研究。

  • 反射光觀察:集成明場、偏光、斜射照明及熒光模塊,適用于金屬材料表面缺陷檢測、半導體晶圓涂層均勻性分析等場景。例如,在液晶材料檢測中,其斜射照明功能可精準捕捉分子排列方向,為工藝優化提供數據支持。

  • 錐光法研究:可選配高級錐光模塊,通過可調焦勃氏鏡與擴展視場設計,實現晶體光軸方向與干涉圖形的同步分析,滿足地質學中礦物多色性、消光角等高級參數測量需求。

性能突破:光學精度與操作效率的雙重提升

  1. 無限遠光學系統
    采用國際標準的無限遠軸向徑向雙重校正光學系統,搭配5孔位可調中物鏡轉盤,支持5x-100x偏光物鏡快速切換。其中,20x、50x、100x物鏡采用長工作距離設計,可兼容不同厚度樣品,避免物鏡與樣品碰撞風險。

  2. 高穩定性載物臺
    360°旋轉偏振載物臺配備電磁鎖與45°卡位裝置,旋轉精度達0.1°,確保樣品定位與光軸對齊的重復性。例如,在石棉纖維檢測中,其精準的旋轉控制可快速定位纖維解理面,提升檢測效率。

  3. 智能照明系統
    內置高亮度LED光源提供4500K恒定色溫,消除傳統鹵素燈色溫漂移對干涉色分析的干擾。UC-3D照明技術通過優化光路設計,在斜射照明模式下仍能保持均勻照明,顯著提升金屬表面劃痕的對比度。

人性化設計:降低操作門檻,提升科研體驗

  • 人體工程學調焦系統:高度可調的聚焦旋鈕適配不同用戶手型,配合2檔/3檔調焦驅動器與扭矩調節功能,減少長時間操作的手部疲勞。例如,在生物樣本檢測中,其平滑的調焦體驗可避免因震動導致的細胞結構模糊。

  • 顏色編碼光闌與CDA技術:視場光闌與孔徑光闌采用顏色編碼設計,與物鏡顏色一一對應,確保照明條件與物鏡參數自動匹配。該技術可將重復性誤差降低,提升多用戶共用設備時的數據一致性。

  • 模塊化擴展能力:支持選配熒光激發光源、冷熱臺及數碼相機接口,可升級為多模態分析平臺。例如,在藥物結晶研究中,通過集成溫度控制系統,可實時觀察晶體生長過程中的雙折射變化。

應用案例:從實驗室到生產線的價值驗證

  • 地質礦物分析:中國地質科學院利用DM2700P的錐光模塊,成功解析了稀有金屬礦物的光性特征,為礦床成因研究提供了關鍵證據。

  • 半導體制造:某芯片廠商采用該設備檢測晶圓表面涂層均勻性,通過偏光模式下的干涉色分析,將涂層厚度偏差控制在納米級,顯著提升良品率。

  • 生物醫學研究:在骨組織檢測中,DM2700P的DIC模式可清晰呈現膠原纖維的排列方向,為人工關節材料設計提供結構優化依據。

  • 高分子材料開發:某化工企業利用其斜射照明功能,快速識別聚合物薄膜中的結晶缺陷,結合錐光法測量結晶度,加速了新型包裝材料的研發周期。

服務支持:全球化網絡保障長期收益

徠卡顯微系統為DM2700P用戶提供全生命周期服務

  • 設備校準:每臺儀器出廠前均通過ISO 9000質量體系認證,并配備標準測微尺與補償器,確保數據全球可追溯。

  • 定制化培訓:提供從基礎操作到高級錐光分析的分級培訓課程,幫助用戶快速掌握設備功能。

  • 快速響應維護:在中國設有多個技術中心,提供現場維修、光路校準及軟件升級服務,最大限度減少設備停機時間。

結語:以創新技術,定義偏光檢測新標準

徠卡偏光顯微鏡DM2700P通過多技術融合、高精度設計與人性化操作,重新定義了偏光檢測的可能性邊界。無論是追求細節解析的科研機構,還是需要高效質檢的工業客戶,DM2700P均能提供適配的解決方案,助力用戶在納米尺度下探索微觀世界的奧秘,推動技術創新與產業升級。

探索更多可能,立即聯系徠卡授權代理商,獲取定制化解決方案與產品試用機會。




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