變溫霍爾效應實驗儀 型號：FMD4006

產(chǎn)品介紹：

霍爾效應的測量是研究半導體性質(zhì)的重要實驗方法。利用霍爾系數(shù)和電導率的測量，用于確定半導體的導電類型和載流子濃度。通過測量霍爾系數(shù)與電導率隨溫度的變化，確定半導體的禁帶寬度、雜質(zhì)電離能及遷移率的溫度系數(shù)等基本參數(shù)。富盟德變溫霍爾效應測量儀采用現(xiàn)代計算機數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)，對霍爾樣品在弱場條件下進行變溫霍爾系數(shù)和電導率的測量，來確定半導體材料的性質(zhì)。

變溫霍爾效應實驗儀由電磁鐵、可自動換向穩(wěn)流源、恒溫器、測溫控溫系統(tǒng)、數(shù)據(jù)采集及數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)等組成。

產(chǎn)品特點：

1.標準法測量樣品

2.可手動測量和自動測量

3.電流自動換向、磁測自動換向；

技術(shù)指標：

電磁鐵：0-300mT可調(diào)；

勵磁電源：0~6A可調(diào)，可自動換向；穩(wěn)定性：﹤±0.1%；

數(shù)字特斯拉計：0~2000mT，四位半數(shù)字顯示；

恒流源輸出：1μA~200mA，連續(xù)可調(diào)；

穩(wěn)定性：±0.1%；

數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)霍爾電壓測量：2000mV；分辨率：1uV；

溫度變化測量范圍：80~420K；

工作電源：AC 220V 50Hz，200W；

霍爾效應的測量是研究半導體性質(zhì)的重要實驗方法。利用霍爾系數(shù)和電導率的測量，用于確定半導體的導電類型和載流子濃度。通過測量霍爾系數(shù)與電導率隨溫度的變化，確定半導體的禁帶寬度、雜質(zhì)電離能及遷移率的溫度系數(shù)等基本參數(shù)。富盟德變溫霍爾效應測量儀采用現(xiàn)代計算機數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)，對霍爾樣品在弱場條件下進行變溫霍爾系數(shù)和電導率的測量，來確定半導體材料的性質(zhì)。

儀器由電磁鐵、可自動換向穩(wěn)流源、恒溫器、測溫控溫系統(tǒng)、數(shù)據(jù)采集及數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)等組成。

產(chǎn)品特點：

1.標準法測量樣品

2.可手動測量和自動測量

3.電流自動換向、磁測自動換向；

技術(shù)指標：

電磁鐵：0-300mT可調(diào)；

勵磁電源：0~6A可調(diào)，可自動換向；穩(wěn)定性：﹤±0.1%；

數(shù)字特斯拉計：0~2000mT，四位半數(shù)字顯示；

恒流源輸出：1μA~200mA，連續(xù)可調(diào)；

穩(wěn)定性：±0.1%；

數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)霍爾電壓測量：2000mV；分辨率：1uV；

溫度變化測量范圍：80~420K；

工作電源：AC 220V 50Hz，200W；