產地類別 | 國產 | 價格區間 | 5萬-10萬 |
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應用領域 | 環保,化工,生物產業,地礦,電子/電池 |
深圳鍍層測厚儀熒光X-射線儀器的測量原理
物質經X射線或粒子射線照射后,由于吸收多余的能量而變成不穩定的狀態。從不穩定狀態要回到穩定狀態,此物質必需將多余的能量釋放出來,而此時是以熒光或光的形態被釋放出來。熒光X射線鍍層厚度測量儀或成分分析儀的原理就是測量這被釋放出來的熒光的能量及強度,來進行定性和定量分析。
● 儀器系統結構
① 測量部分的結構
用于照射(激發)的X射線是采用由上往下照射方式,用準直器來確定X射線的光束大小。
樣品的觀察是利用與照射用的X射線同軸的CCD攝像機所攝制的圖像來確定想要測量的樣品位置。標準配備了多種尺寸的準直器可根據需要調整照射X射線的光束大小來決定測量面積,最小可測量面積是40umф。
② X射線操作部分(X-ray station)
Excel和Word是標準配置,利用這些軟件,我們可以簡單快速地進行測量數據的統計處理及測量結果報告書的編輯和打印。