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化工儀器網>產品展廳>物理特性分析儀器>測厚儀>在線測厚儀> 日本Otsuka大塚LC Fseries彩色光刻膠測量

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日本Otsuka大塚LC Fseries彩色光刻膠測量

具體成交價以合同協議為準
  • 公司名稱 成都藤田科技有限公司
  • 品牌 OTSUKA/日本大塚
  • 型號
  • 產地
  • 廠商性質 代理商
  • 更新時間 2025/2/21 14:02:18
  • 訪問次數 175

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公司簡介

COMPANY INTRODUCTION

成都藤田科技有限公司經營進出口業務7年有余,位于西南地區四川成都;通過不斷努力、進步與各類日本、部分歐美品牌建立長期穩定的合作關系,覆蓋電子產品、工具、電子元器件、儀器儀表、防靜電設備、輔料、自動化設備、非危險性化工產品、機械設備及配件、通信設備。

成都藤田科技供貨渠道

因為長期良好的經營環境,獲得國內外客戶與商社的喜愛,隨著互聯網的發展建立了專有的網絡模式MRO;

堅持以服務客戶為主的經營理念、追求客戶滿意服務為宗旨、禮貌誠信為原則提供客戶服務,并以成為客戶值得信賴的工業品綜合服務商為目標。

MRO兩種形式

  1. 超市建立工業品專柜,大型超市也會經營部分工業品,但種類和數量有限。

  2. 網上工業品超市,這種形式配送可為客戶大規模找尋產品,使供應商和采購商都實現“進入一個點,得到一大片”連鎖效應,有效降低采購商采購成本。

代理品牌:


代理品牌:

半自動 全自動定制設備。

Epson愛普生(機器人/機械臂)

ATTEN安泰信(焊接產品)

日本日本三鍵ThreeBond(膠水)

日本ESTIC艾斯迪克(擰緊工具)

日本MUSASHI武藏(點膠機)

日本HOYA豪雅(UV固化燈,玻璃鏡片)

日本SIGMAKOKI西格瑪(光學元件、物鏡等)

日本YUMEX優美科思(各種疝氣燈)

日本TOKISANGYO東機產業(粘度計)

日本KANOMAX加野(風速儀)

日本YAMADA雅瑪達(隔膜泵)

日本EPSON愛普生(機械臂)

日本TSUBOSAN壺三(銼刀工具)

韓國DIT東日技研(除靜電產品)

韓國HANIL韓一(攪拌機)

優勢品牌:

日本Otsuka大塚電子(晶圓、覆膜測厚儀)

日本分光JASCO(光譜儀、光度計、色譜儀)

日本FLUORO福樂(用于晶圓的搬運)

日本MITUTOYO三豐(測量器具)

日本AND艾安得(微量電子分析天平)

英國Meech密其(非接觸式除塵系統)

日本SSD西西蒂(防靜電設備)

日本NEW-COSMOS 新宇宙(氣體檢測儀)

YIZOMO一子沫(拉拔機)

日本FURUPLA富如拉(噴壺)

日本PISCO匹士克(氣動元件)

美國MEISEI(熱剝線鉗)

日本TECHNO特古羅(錫爐)

日本AMANO安滿能(除塵設備)

日本MALCOM馬康(粘度計)

日本HOZAN寶山(鑷子、鉗子等工具)

美國SIMCO思美高(防靜電、除塵產品);



成都藤田科技為廣大客戶提供一體化、全面、優質高效服務。





Epson愛普生機器人,安泰信焊錫設備(半自動/全自動),視覺成像,武藏點膠機

產地類別 進口 價格區間 面議
應用領域 綜合

日本Otsuka大塚LC Fseries彩色光刻膠測量-成都藤田科技提供

日本Otsuka大塚LC Fseries彩色光刻膠測量


產品信息

特點

以透過光譜測量、色測量為代表,通過濃度測量、膜厚測量、反射光譜測量等,可對應彩色濾光片制造工程中的所有檢查的裝置

可用于彩色濾光片的光學特性或玻璃基板上膜的薄膜解析等各類評價

通過自動對焦功能和自動繪素位置相結合,測量精度高,登陸recipe實現全自動檢查


測量項目

彩色濾光片評價

色測量(透過光譜測量)

色度(XYZ,xy,Lab,L*a*b*,u'v',u*v*)

色差,白平衡

反射率測量 *

光學濃度(OD)測量 *

畫素幅測量 *

AF(自動對焦),結合自動繪素 *

膜厚評價

膜厚測量

膜物性解析(n:折射率,k:消減系數)

*選配功能

測量對象

R, G, B, ITO, PI, PR, OC, BM


產品規格


型號

LCF series

樣品尺寸

50mm x 50mm ~*

檢出器

分光光度計 ( MCPD檢出器 ),PMT (option)

圖像處理

CCD相機及monitor
自動對焦、結合自動繪畫素機構

Stage及測量部支架

X-Y-Zstage自動及手動(電動方式)

* 也可用于大型玻璃基板(3000mm x 3000mm以上)


測量例

彩色濾光片R、G、B測量

日本Otsuka大塚LC Fseries彩色光刻膠測量


核心特點


  1. 微區測量能力:最小光斑直徑3μm,搭配自動XY平臺(200×200mm),實現晶圓、FPD(如OLED、ITO膜)等微小區域的精準厚度分布映射。


  2. 跨行業適用性:專為半導體(SiO?/SiN膜)、顯示面板(彩色光阻)、DLC涂層等行業設計,支持粗糙表面、傾斜結構及復雜光學異向性樣品的分析。


  3. 安全與擴展性:區域傳感器觸發防誤觸機制,獨立測量頭支持定制化嵌入,滿足在線檢測(inline)與實驗室研發需求。

日本Otsuka大塚LC Fseries彩色光刻膠測量-成都藤田科技提供







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