Tektronix泰克DSA8300數(shù)字采樣示波器

主要性能指標(biāo)

光接口分辨率從 80C07B（1 mW 全量程）的 <20 nW 到 80C10C（30 mW 全量程）的 <0.6 µW

光接口帶寬 >80 GHz

電接口帶寬 >70 GHz

為 NRZ、RZ 和脈沖信號類型提供了超過 120 種自動測量功能

低時基抖動:

  8 條同時采集的通道上典型值為 425 fs

82A04B 相位基準(zhǔn)模塊中，最多 6 條通道上 <100 fs

垂直分辨率 – 16 位模數(shù)轉(zhuǎn)換器

電接口分辨率：<20 µV LSB（適用于 1 v 全量程）

80 多種行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)模板，自動進(jìn)行模板測試

主要特點(diǎn)

各種光接口模塊、電接口模塊和附件模塊可以滿足您的特定測試要求。

光接口模塊

支持從 155 Mb/s 到 10 Gb/s、40 Gb/s、100 Gb/s 和 50G/100G/200G/400G PAM4 光數(shù)據(jù)速率的光模塊

光基準(zhǔn)接收機(jī)(ORR) 1 滿足了標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的一致性測試中 的要求

光接口采樣模塊提供了高光學(xué)靈敏度、低噪聲及寬動態(tài)范圍，可以準(zhǔn)確地測試和檢定短程到遠(yuǎn)程光接口通信標(biāo)準(zhǔn)

經(jīng)過全面校準(zhǔn)的時鐘恢復(fù)解決方案 – 不需要手動校準(zhǔn)數(shù)據(jù)撿拾損耗

已校準(zhǔn)消光比測量和變量校正 ER 測量可確保精度和重復(fù)能力

電接口模塊

超低噪聲電采樣器（20GHz 時 280 μV，60GHz 時 450 μV，典型值）

可以選擇帶寬2，用戶可以平衡帶寬和噪聲，實(shí)現(xiàn)的數(shù)據(jù)采集性能

遠(yuǎn)程采樣器或緊湊的采樣擴(kuò)展器模塊電纜 限度地減少信號劣化，因為采樣器可以放在被測器件附近

高性能集成 TDR（10 ps 典型步進(jìn)上升時間）支持杰出的阻抗不連續(xù)性檢定，對帶寬高達(dá) 50GHz 的 S 參數(shù)測量提供了高動態(tài)范圍

分析

對速率在 <1 GBd 到 60 GBd 之間的高速 PAM4 和 PAM2 NRZ 串行數(shù)據(jù)執(zhí)行抖動、噪聲和 BER

80STDEC 簡化了高性能發(fā)射機(jī)和色散眼圖閉合 (TDEC) 測量，使其非常適合生產(chǎn)和一致性驗證應(yīng)用

自動模板測試，支持 80 多種行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)模板。新模板可以導(dǎo)入 DSA8300，支持各種新興標(biāo)準(zhǔn)。用戶可以定義自己的模板，自動進(jìn)行模板測試

抖動、噪聲、BER、模板測試和串行數(shù)據(jù)鏈路分析 (SDLA) 通過 80SJNB Essentials 和 Advanced 應(yīng)用軟件選項提供

高級 TDR 分析、S 參數(shù)測量、仿真模型提取和串行鏈路仿真功能通過 IConnect® 應(yīng)用軟件選項提供

400G-M4 光制造分析軟件提供了光發(fā)射機(jī)和色散眼圖閉合象限(TDECQ)分析功能

高測試吞吐量

每條通道高達(dá) 200 kS/s 的高采樣率

高效編程接口（IEEE-488、以太網(wǎng)或本地處理器接入）實(shí)現(xiàn)高測試吞吐量

泰克DSA8300數(shù)字采樣示波器tektronix

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