XRF-T6SDD型ROHS檢測儀特點：

1、RoHS、無鹵標準:Pb鉛、Cd隔、Hg汞、PBBPBDE溴、 Cr鉻、Cl氯；

2、RoHS2.0標準：Pb鉛、Cd隔、Hg汞、PBBPBDE溴、 Cr鉻、DEHP、DBP、BBP、DIBP

3、EN71標準:八大重金屬-Pb鉛、Cd隔、Hg汞、Cr鉻、As砷、Se硒、Sb銻、Ba鋇；
4、EN71新標準；重金屬19項（測當中的15種元素）；
5、鍍層厚度：鍍銅、鎳、鉻、銀、金…………
6、不銹鋼、銅材成份分析：銅、鋅、鎳、鉛、錫、鐵、鉻、錳（鈉Na-鈾U之間的元素）

能量色散X熒光光譜儀，簡稱XRF光譜儀、RoHS檢測儀、ROHS光譜儀、rohs2.0測試儀，是一種物理分析方法，具有快速、無損、多種元素同時分析、分析成本低等特殊技術優勢。采用X射線熒光光譜檢測技術，運用全新的一體機理念，*美國AMPTEK制造的Si-PIN探測器，可準確檢測鉛、汞、鎘、六價鉻、多溴聯苯、多溴聯苯醚等有害重金屬物質、被測樣品可以是固體、液體、粉末、標簽……，廣泛應用于電子/塑膠產品生產、玩具制造、五金制造、質檢機構等領域，儀器運行穩定性高。

?XRF-T6SDD型ROHS檢測儀技術指標

元素分析范圍：從鈉Na-鈾U之間的元素

                    RoHS限定有害元素Pb/Hg/Cd/Cr/Br + 鹵素
                    合金成份分析：不銹鋼、銅合金等
                    鍍層：Ag/Sn/Au/Ni—Cu，Cr/Zn/Ni/Ag/—Fe（單層或雙層電鍍） 

低檢出限值：RoHS：Cd/Cr/Hg/Br≤1ppm 、Pb≤2ppm、Cl≤20ppm

                    成分分析：0.01%--99.99%

                    鍍層分析：0.0035um--40um

                    多次測量重復性可達0.1%（含量96%以上）

                    *工作穩定性為0.05%（含量96%以上） 

樣品范圍：固體、液體、粉末

低檢出限：低1ppm

X光管適用壽命：大于20000小時

探測器：電制冷SDD探測器（美國進口配件）

分辨率：125±5eV

高壓電源：0-50kev，0-2mA

攝像頭：清晰攝像定位系統

操作系統：Windows7集成工業計算機，無需外接電腦

準直器：光斑φ1mm、3mm、5mm(軟件自動選擇)

工作環境溫度：15-30℃

工作環境相對濕度：≤85% （不結露）

輸入電源：AC 220V±10%，50Hz (建議配置凈化穩壓電源)

儀器尺寸：650mm*450mm*350mm