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化工儀器網>產品展廳>物理特性分析儀器>測厚儀>鍍層測厚儀> 博曼(Bowman)XRF鍍層測厚儀 W系列

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博曼(Bowman)XRF鍍層測厚儀 W系列

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博曼測厚儀

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安柏來科學儀器成立于上海,并在深圳、西安、成都、廈門和蘇州有服務人員。我們與專業的鍍層測量企業合作,致力于為用戶創造高價值的鍍層及膜層測量解決方案。

安柏來憑借質量可靠的儀器設備和優質高效的服務贏得市場。我們在上海建立了專業的儀展示廳和實驗室,旨在將前沿的技術帶給中國用戶。在您購買儀器設備的同時,也能享受到優質的服務。

美國博曼(Bowman)是高精度臺式鍍層測厚儀供應商,擁有近40年的行業經驗。博曼XRF系統搭載擁有自主知識產權的鍍層檢測技術和*的軟件系統,可精準高效地分析金屬鍍件中元素厚度和成分。博曼XRF系統可同時測量包含基材在內的五層元素,其中任何兩層元素可以是合金。同時,博曼XRF系統也可以測量高熵合金(HEAs)。

博曼XRF鍍層測量系統滿足業界對精度,可靠性和易用性的嚴格要求。緊湊且符合人體工程學的設計讓應用分析變得更簡便,更高效。博曼致力于通過提供合理的價格和優質的產品滿足用戶的快速的投資回報。

美國制造,各國用戶的選擇

博曼(Bowman)是一家集設計,研發和制造XRF鍍層測量系統的專業制造商。同時,博曼XRF系統在中國,日本,韓國,印度,菲律賓,德國,意大利等海外市場也擁有廣泛且忠實的用戶群。


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了解博曼鍍層測厚儀,請登錄:www.bowmanxrf.com。

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鍍層測厚儀

產地類別 進口 價格區間 面議
應用領域 電子/電池

博曼W系列產品概述:

- W系列采用多毛細管光學機構,可將X射線聚焦到7.5μmFWHM,150倍放大相機用于觀察樣品上的細微特征;同時配有低倍數相機,用于觀察樣品的宏觀成像。博曼的雙攝像頭系統可讓操作人員看到整個樣品,點擊圖像,通過高倍放大相機進行放大,實現測量點的精確定位和測量。

- 可編程的XY平臺,精度優于+/-1μm,可精確定位多個測量點;博曼專有的樣品模式識別軟件搭配自動對焦功能可幫助客戶自動快速完成細微樣品特征的測試。*的3D Mapping 掃描功能可繪制出硅晶圓等部件表面的鍍層形貌。

- W系列的標準配置包括7.5um鉬靶光學結構(可選鉻和鎢)和高分辨率、大窗口硅漂移探測器,該探測器每秒可處理超過2百萬次計數。

- W系列是博曼分析儀器推出的第7款產品。與其他產品一樣,它多同時可測量5層鍍層。采用*的Xralizer軟件,通過檢測X射線熒光能量準確定量分析鍍層厚度。Xralizer軟件將直觀的可視化操作、便捷的功能鍵、全面的檢索功能、“一鍵式”報告生成等*結合。同時該軟件*簡化了用戶創建新應用的過程,帶給用戶優質的體驗。

博曼W系列可滿足以下類型用戶的需求:

- 需要檢測晶圓,引線框架,PCBs

- 需要快速測量多個樣品的多個點

- 希望實現不同樣品的自動化檢測

- 符合IPC-4552A


博曼W系列產品參數:

類別參數
元素測量范圍:13號鋁元素到92號鈾元素
X射線管:50 W鉬鈀射線管(可選鉻和鎢)7.5um毛細管光學結構
探測器:135eV分辨率的大窗口硅漂移探測器
視頻放大倍率:20"屏幕上的150倍微觀攝像頭(多600倍數碼變焦)
分析層數及元素數:5層,每層可分析10種元素,成分分析多可分析25種元素
濾波器:4位置一次濾波器
焦距:可變焦
數字脈沖器:4096 多通道數字處理器,自動死時間和逃逸峰校正
計算機:英特爾, 酷睿 i5 3470 處理器 (3.2GHz), 8GB DDR3 內存, 微軟 Windows 10 專業版, 64位
相機:1 / 4"CMOS-1280×720 VGA分辨率
電源:150W,100-240V,頻率范圍為47Hz至63Hz
重量:190kg
可編程XY平臺:

XYZ行程: 300mm (11.8″) x 400mm (15.7″) x 100mm (3.9″)

XY桌面: 305mm (12″) x 406mm (16″)

X軸準確度: 2.5um (100u″) X軸精確度: 1um (40u″)

Y軸準確度: 3um (120u″) Y軸精確度: 1um (40u″)

Z軸準確度: 1.25um (50u″) Z軸精確度: 1um (40u″)

樣品倉尺寸:高度:735mm(29"),寬度:914mm(36"),深度:100mm(4")
外形尺寸:高度:940mm(37"),寬度:990mm(39"),深度:787mm(31")
其他新特征:

Z 軸防撞陣列

自動聚焦和自動鐳射

模式識別

*的自定義數據調用


關于美國博曼:

美國博曼(Bowman)是高精度臺式鍍層測厚儀供應商,擁有近40年的行業經驗。博曼XRF系統搭載擁有自主知識產權的鍍層檢測技術和*的軟件系統,可精準高效地分析金屬鍍件中元素厚度和成分。博曼XRF系統可同時測量包含基材在內的五層元素,其中任何兩層元素可以是合金。同時,博曼XRF系統也可以測量高熵合金(HEAs)。

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