GW-165 貝爾實(shí)驗(yàn)室－高溫老化試驗(yàn)室
- 公司名稱 貝爾實(shí)驗(yàn)室裝備江蘇有限公司
- 品牌
- 型號(hào) GW-165
- 產(chǎn)地 無錫市經(jīng)濟(jì)開發(fā)區(qū)高凱路27號(hào)
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2018/5/16 11:43:56
- 訪問次數(shù) 498
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高溫老化室GW-165[貝爾實(shí)驗(yàn)室裝備]
高溫老化室是針對(duì)高性能電子產(chǎn)品（如：機(jī)算機(jī)整機(jī)，顯示器，終端機(jī)，車用電子產(chǎn)品，電源供應(yīng)器，主機(jī)板、監(jiān)視器、交換式充電器等）仿真出一種高溫、惡劣環(huán)境測(cè)試的設(shè)備，是提高產(chǎn)品穩(wěn)定性、可靠性的重要實(shí)驗(yàn)設(shè)備、是各生產(chǎn)企業(yè)提高產(chǎn)品質(zhì)量和競(jìng)爭(zhēng)性的重要生產(chǎn)流程，該設(shè)備廣泛應(yīng)用于電源電子、計(jì)算機(jī)、通訊、生物制藥等領(lǐng)域。
*：設(shè)備規(guī)格及滿足標(biāo)準(zhǔn)
1.內(nèi)箱尺寸D3000mm×W2200mm×H2500mm
2.外形尺寸D3500mm×W2600mm×H2700mm
3.門洞尺寸 W2200mm×H2500mm
滿足試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn) GJB 150.3-1986 高溫試驗(yàn)
GB/T2423.2-2001 試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法
GB/T5170.2-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗(yàn)設(shè)備
第二：技術(shù)參數(shù)
1.溫度范圍 ：RT+20℃～+300℃
2.溫度波動(dòng)度 ：±0.5℃（恒溫時(shí)，既設(shè)備在穩(wěn)定狀態(tài)下，工作空間中心點(diǎn) 溫度隨時(shí)間的變化量，即中心點(diǎn)在30min內(nèi)（每30s測(cè)試一次）實(shí)測(cè)zui高溫度與 zui低溫度之差的一半，以“±”表示，即溫度波動(dòng)度℃）
3.溫度均勻度： ±2.5℃（RT+20～180℃時(shí)在距試驗(yàn)箱壁1/6尺寸布點(diǎn)檢測(cè),即設(shè)備達(dá) 到穩(wěn)定后，在30min內(nèi)（每30s測(cè)試一次）每次測(cè)試中實(shí)測(cè)zui高溫度與zui低溫度之差的算術(shù)平均值，即溫度均勻度）.
4.溫度沖高：≤3℃(程控時(shí))
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